講演名 2000/5/5
誤り追跡入力と論理関数処理を併用したFPGA対応論理診断手法
井上 宏, 皆見 利行, 水谷 浩二, 黒木 修隆, 沼 昌宏,
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抄録(和) 本稿では, LUT型FPGAで実現された回路に含まれる多重設計誤りの修正を行うEXL法を提案する。本手法では, 誤り追跡入力と呼ばれるパターンに基づく処理と, BDDに基づく論理関数処理を組み合わせている。パターンに基づく処理では, 従来のゲート回路を対象とする拡張X-伝搬法と同様に, 考慮すべき組合せ箇所数を大幅に削減することを目的とする。一方, 論理関数処理においては, 残存する各組合せ箇所について, LUT内部の機能を正しく決定することを目的とする。これら2種類の手法を併用することにより, 現実的な処理時間で, 100%の限定率が達成された。
抄録(英) This paper presents an approach to rectify multiple logic design errors in LUT-based FPGA designs. This approach, called EXL-algorithm, combines two kinds of techniques:a pattern-based technique for locating errors like in the EXM-algorithm, and a BDD-based formal technique to fix LUT function at each location. This combination allows the EXL-algorithm to rectify errors of LUT functions within practical processing time at 100 % hit ratio.
キーワード(和) 論理診断 / 設計誤りの修正 / FPGA / LUT / 誤り追跡入力
キーワード(英) Error diagnosis / Rectification of design errors / FPGA / LUT / PLEM
資料番号 VLD2000-8
発行日

研究会情報
研究会 VLD
開催期間 2000/5/5(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 VLSI Design Technologies (VLD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 誤り追跡入力と論理関数処理を併用したFPGA対応論理診断手法
サブタイトル(和)
タイトル(英) An Error Diagnosis Technique for LUT-Based FPGA Designs Combining Pattern-Based Technique and BDD-Based Formal Technique
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 論理診断 / Error diagnosis
キーワード(2)(和/英) 設計誤りの修正 / Rectification of design errors
キーワード(3)(和/英) FPGA / FPGA
キーワード(4)(和/英) LUT / LUT
キーワード(5)(和/英) 誤り追跡入力 / PLEM
第 1 著者 氏名(和/英) 井上 宏 / Hiroshi Inoue
第 1 著者 所属(和/英) 神戸大学
Kobe University
第 2 著者 氏名(和/英) 皆見 利行 / Toshiyuki Kaimi
第 2 著者 所属(和/英) 神戸大学
Kobe University
第 3 著者 氏名(和/英) 水谷 浩二 / Koji Mizutani
第 3 著者 所属(和/英) 神戸大学
Kobe University
第 4 著者 氏名(和/英) 黒木 修隆 / Nobutaka Kuroki
第 4 著者 所属(和/英) 神戸大学
Kobe University
第 5 著者 氏名(和/英) 沼 昌宏 / Masahiro Numa
第 5 著者 所属(和/英) 神戸大学
Kobe University
発表年月日 2000/5/5
資料番号 VLD2000-8
巻番号(vol) vol.100
号番号(no) 36
ページ範囲 pp.-
ページ数 8
発行日