| 講演名 | 2000/5/4 DATE2000報告 高橋 篤司, |
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| 抄録(和) | 本稿では, パリで開催された今年で3回目を迎える欧州の設計, 設計自動化, テストに関する会議(DATE2000)の報告を行なう.会議では106件の論文, 31件のポスター論文が発表され, 同時に講習会, ユーザーフォーラム, 展示会などが開催された.会議の基調講演は, "Connected, Smart Devices-Computing Beyond the Desktop"という題で, Wild River Systems社のJerry Fiddler会長, およびXilinx社のWim Roelandts社長(CEO)が講演し, 500名以上が聴講した.また, Cadence社, Synopsys社, Mentor社のCEOが出席するCEOフォーラムが最終日の昼食後に開かれ多数の出席者があった.第1回DATEに比べ論文投稿数は20%, 事前登録者数は25%, 展示は70%増加するなど, 会議には活気に満ちていた. |
| 抄録(英) | This paper reports third Design, Automation and Test in Europe Conference 2000(DATE2000) held at Paris. The conference program comprised 106 scientific papers and 31 poster presentations, and alongside it ran a series of hands-on tutorials, a User Forum, and Exhibition, etc. Keynotes entitled "Connected, Smart Devices-Computing Beyond the Desktop" were given by Jerry Fiddler, Chairman of Wild River Systems, and Wim Roelandts, CEO of Xilinx. Attendees were more than five hundred. A CEO forum were held after lunch on the last day of DATE in which CEOs of Cadence Design Systems, Synopsys, and Mentor Graphics were met. The CEO forum had also many attendees. The conference were very active and attractive which can be seen from the fact that the number of paper submissions increased more than 20%, the number of pre-registration increased about 25%, and the exhibition increased 70%, over the first DATE conference at Paris. |
| キーワード(和) | 設計 / 自動設計 / テスト / 欧州 |
| キーワード(英) | design / automation / test / Europa |
| 資料番号 | VLD2000-4 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
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| 開催期間 | 2000/5/4(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | DATE2000報告 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Report on Design, Automation and Test in Europe Conference 2000 (DATE 2000) |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 設計 / design |
| キーワード(2)（和/英） | 自動設計 / automation |
| キーワード(3)（和/英） | テスト / test |
| キーワード(4)（和/英） | 欧州 / Europa |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 高橋 篤司 / Atsushi Takahashi |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東京工業大学大学院理工学研究科集積システム専攻 Department of Communications and Integrated Systems, Tokyo Institute of Technology |
| 発表年月日 | 2000/5/4 |
| 資料番号 | VLD2000-4 |
| 巻番号（vol） | vol.100 |
| 号番号（no） | 35 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 2 |
| 発行日 | |