講演名 1999/8/27
回路シミュレーションを用いたESD保護回路の検討
安西 浩美, 佐藤 成生, 鈴木 邦広,
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抄録(和) LSIの微細化が進み、ESD(Electrostatic discharge:静電気放電)からデバイスを保護するESD保護回路の役割はますます重要になっている。しかし、保護回路の面積縮小によってESD耐性の確保が困難になっている。ESD耐性は、配線抵抗やレイアウトに依存することが分かっている。本報告書では、ESD保護素子の簡単な等価回路モデルと回路シミュレーションの手法を提案し、ESD保護回路のレイアウトの最適化に使用できる可能性を示す。
抄録(英) In scaled-down devicesc roles of ESD(Electrostatic discharge) protection devices are more importang. However, it is more difficult to ensure ESD immunity with down-scaled devices. ESD immunity depends on the resistor and layout. In this paper, we propose a new equivalent circuit model for protection devices and methodology of circuit simulation.
キーワード(和) 静電気放電 / 保護回路 / 回路シミュレーション / スナップバック
キーワード(英) ESD(Electrostatic discharge) / protection devices / circuit simulation / snapback
資料番号 VLD99-58
発行日

研究会情報
研究会 VLD
開催期間 1999/8/27(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 VLSI Design Technologies (VLD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 回路シミュレーションを用いたESD保護回路の検討
サブタイトル(和)
タイトル(英) Investigation of ESD protection device by circuit simulator
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 静電気放電 / ESD(Electrostatic discharge)
キーワード(2)(和/英) 保護回路 / protection devices
キーワード(3)(和/英) 回路シミュレーション / circuit simulation
キーワード(4)(和/英) スナップバック / snapback
第 1 著者 氏名(和/英) 安西 浩美 / Hiromi Anzai
第 1 著者 所属(和/英) (株)富士通研究所
Fujitsu Laboratories Ltd.
第 2 著者 氏名(和/英) 佐藤 成生 / Shigeo Satoh
第 2 著者 所属(和/英) (株)富士通研究所
Fujitsu Laboratories Ltd.
第 3 著者 氏名(和/英) 鈴木 邦広 / Kunihiro Suzuki
第 3 著者 所属(和/英) (株)富士通研究所
Fujitsu Laboratories Ltd.
発表年月日 1999/8/27
資料番号 VLD99-58
巻番号(vol) vol.99
号番号(no) 262
ページ範囲 pp.-
ページ数 7
発行日