講演名 1998/10/23
SOI基板におけるリンの再分布モデル
石山 俊彦, 松本 聡, / 谷内 利明,
PDFダウンロードページ PDFダウンロードページへ
抄録(和) アニール後のSOI基板中のリンの分布についてモデルを作成し、実験結果と比較した。アニール後のSOI基板中では、リンは上部Si層/SiO_2膜界面にパイルアップすることを考慮してモデルを作成した。提案したモデルによるシミュレーション結果は、SOI構造中のリン分布の実験結果をよく再現した。
抄録(英) We studied phosphorus distribution in the SOI structure and proposed a phosphorus distribution model after anneal, that can explain pile-up in the SOI structure. Simulation results using the proposed model showed its usefulness in estimating the phsphorus concentrations in the SOI structure.
キーワード(和) リン / パイルアップ / シミュレーション / 不純物分布 / 熱処理
キーワード(英) phosphorus / pile-up / simulation / dopant / anneal / profile
資料番号 VLD98-89,ED98-114,SDM98-150,ICD98-220
発行日

研究会情報
研究会 VLD
開催期間 1998/10/23(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 VLSI Design Technologies (VLD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) SOI基板におけるリンの再分布モデル
サブタイトル(和)
タイトル(英) A New Model of Phosphorus Distribution in the SOI Structure
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) リン / phosphorus
キーワード(2)(和/英) パイルアップ / pile-up
キーワード(3)(和/英) シミュレーション / simulation
キーワード(4)(和/英) 不純物分布 / dopant
キーワード(5)(和/英) 熱処理 / anneal
第 1 著者 氏名(和/英) 石山 俊彦 / T Ishiyama
第 1 著者 所属(和/英) NTT入出力システム研究所
NTT Integrated Information & Energy Systems Laboratories
第 2 著者 氏名(和/英) 松本 聡 / S Matsumoto
第 2 著者 所属(和/英) NTT入出力システム研究所
NTT Integrated Information & Energy Systems Laboratories
第 3 著者 氏名(和/英) / 谷内 利明 / T Sakai
第 3 著者 所属(和/英) NTT入出力システム研究所
NTT Integrated Information & Energy Systems Laboratories
発表年月日 1998/10/23
資料番号 VLD98-89,ED98-114,SDM98-150,ICD98-220
巻番号(vol) vol.98
号番号(no) 346
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日