講演名 1996/3/7
電流テストによる論理回路のブリッジ故障検出のための検査容易化設計法
橋爪 正樹, 為貞 建臣, 矢野 武志,
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抄録(和) 電源から論理回路に供給される電源電流を測定し、論理回路内の故障を検出する検査法は電流テストと呼ばれている。本稿では、論理回路内の論理ゲートの入出力信号線間に発生したブリッジ故障を、電流テストにより検出するための検査容易化設計法を提案している。またその検査容易化設計法をTTLゲートで実現したISCAS-85ベンチマーク回路に対し適用している。それにより、提案している手法を用いることで、電源電流測定用端子が増加するものの、従来の外部出力信号線の論理値測定による検査法に比べ、ブリッジ故障の検出が著しく容易に行えることが示されている。
抄録(英) In this paper, a DFT method is proposed, which is for detecting bridging faults in logic circuits by measuring the supply currents. The method partitions an original circuit into smaller size of circuit blocks so that bridging faults can be detected by measuring the supply current of each block whenever each bridging fault is activated. By using the method, ISCAS-85 benchmark circuits made of TTL gates are designed. The results show that bridging faults can be detected by the supply current test more easily than the conventional fault detection method based on output logic values.
キーワード(和) 電流テスト / ブリッジ故障 / 検査容易化設計 / 論理回路 / IDDQテスト
キーワード(英) current testing / bridging fault / DFT / logic circuit / IDDQ test
資料番号 VLD95-129,ICD95-229
発行日

研究会情報
研究会 VLD
開催期間 1996/3/7(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 VLSI Design Technologies (VLD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 電流テストによる論理回路のブリッジ故障検出のための検査容易化設計法
サブタイトル(和)
タイトル(英) DFT of Bridging Faults in Logic Circuits with Current Testing
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 電流テスト / current testing
キーワード(2)(和/英) ブリッジ故障 / bridging fault
キーワード(3)(和/英) 検査容易化設計 / DFT
キーワード(4)(和/英) 論理回路 / logic circuit
キーワード(5)(和/英) IDDQテスト / IDDQ test
第 1 著者 氏名(和/英) 橋爪 正樹 / Masaki Hashizume
第 1 著者 所属(和/英) 徳島大学工学部電気電子工学科
Faculty of Engineering, The Univ. of Tokushima
第 2 著者 氏名(和/英) 為貞 建臣 / Takeomi Tamesada
第 2 著者 所属(和/英) 徳島大学工学部電気電子工学科
Faculty of Engineering, The Univ. of Tokushima
第 3 著者 氏名(和/英) 矢野 武志 / Takeshi Yano
第 3 著者 所属(和/英) 徳島大学工学部電気電子工学科
Faculty of Engineering, The Univ. of Tokushima
発表年月日 1996/3/7
資料番号 VLD95-129,ICD95-229
巻番号(vol) vol.95
号番号(no) 561
ページ範囲 pp.-
ページ数 8
発行日