| 講演名 | 1997/10/29 メモリバーンイン装置のテストパターン生成・制御回路のFPGAによる実現 井口 幸洋, 来住野 知臣, 横山 治男, |
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| 抄録(和) | 多品種のメモリ, 種々のテストに柔軟に対応可能なバーンインテスタが望まれている. 電子回路部分に再定義可能なFPGA (Field Programmable Gate Array) を用いることで, これらが実現可能と思われる. 本稿では, テストパターン生成・制御回路をFPGAで構成し, その可能性を明らかにする. |
| 抄録(英) | It is desired to develop a flexible burn-in tester adaptable for various kinds of memories and their tests. Such a flexible tester can be cost-effectively realized by using reconfigurable FPGAs for the electric parts. We implemented the pattern generation and control circuits using FPGAs to show its feasiblity. |
| キーワード(和) | FPGA / 半導体メモリ / バーンインテスタ |
| キーワード(英) | FPGA / Memory / Burn-in tester |
| 資料番号 | VLD97-85 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
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| 開催期間 | 1997/10/29(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | メモリバーンイン装置のテストパターン生成・制御回路のFPGAによる実現 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Implementation of Test Pattern Generation and Control Circuits in Memory Burn-In Testers by using FPGAs |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | FPGA / FPGA |
| キーワード(2)（和/英） | 半導体メモリ / Memory |
| キーワード(3)（和/英） | バーンインテスタ / Burn-in tester |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 井口 幸洋 / Yukihiro IGUCHI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 明治大学理工学部 情報科学科 Dept. of Computer Science Meiji University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 来住野 知臣 / Tomoomi KISHINO |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本エンジニアリング テクニカルセンタ Technical Center Japan Engineering CO., LTD. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 横山 治男 / Haruo YOKOYAMA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 明治大学理工学部 情報科学科 Technical Center Japan Engineering CO., LTD. |
| 発表年月日 | 1997/10/29 |
| 資料番号 | VLD97-85 |
| 巻番号（vol） | vol.97 |
| 号番号（no） | 344 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |