| 講演名 | 1997/10/29 時間冗長方式とHamming符号を用いた組合せ回路内の2重故障のマスク 吉田 たけお, |
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| 抄録(和) | 再試行と誤り検出符号を利用した耐故障化技術の一つにADR (Alternate-Data Retry) がある。本稿では、まず、高々2回の試行 (初期試行と再試行) とパリティ符号を用いて、組合せ回路に発生した単一故障をマスクする方法を示す。次に、高々2回の試行とHamming符号を用いて、組合せ回路に発生した2重故障に起因する多重誤りを訂正する方法を提案する。 |
| 抄録(英) | Alternate-Data Retry (ADR) is one of fault tolerant techniques using both retry scheme and error-detecting code. This paper presents a method using tries at most two times (initial try and retry) and parity check code to mask a single fault in combinational circuits. We also propose a method using tries at most two times and Hamming code to correct multiple errors caused by double faults in combinational circuits. |
| キーワード(和) | ADR (Alternate-Data Retry) / 再試行 / パリティ符号 / Hamming符号 / 誤り訂正 / 故障マスク |
| キーワード(英) | ADR / retry / parity check code / Hamming code / error correction / fault masking |
| 資料番号 | VLD97-82 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
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| 開催期間 | 1997/10/29(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 時間冗長方式とHamming符号を用いた組合せ回路内の2重故障のマスク |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Masking Double Faults in Combinational Circuits Using Retry Scheme and Hamming Code |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ADR (Alternate-Data Retry) / ADR |
| キーワード(2)（和/英） | 再試行 / retry |
| キーワード(3)（和/英） | パリティ符号 / parity check code |
| キーワード(4)（和/英） | Hamming符号 / Hamming code |
| キーワード(5)（和/英） | 誤り訂正 / error correction |
| キーワード(6)（和/英） | 故障マスク / fault masking |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 吉田 たけお / Takeo YOSHIDA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 琉球大学工学部情報工学科 Department of Information Engineering, Faculty of Engineering, University of the Ryukyus |
| 発表年月日 | 1997/10/29 |
| 資料番号 | VLD97-82 |
| 巻番号（vol） | vol.97 |
| 号番号（no） | 344 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 8 |
| 発行日 | |