講演名 | 1997/9/25 CCD基本特性自動解析シミュレータの開発 立川 景士, 梅田 卓也, 岡田 裕幸, 小田 嘉則, 大原 完治, |
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抄録(和) | プロセスシミュレーションの結果から, CCD固体撮像素子の基本となる電気特性を完全自動で解析できるCCD基本特性自動解析シミュレータを開発した. 本シミュレータにより, 専門家でないデバイス設計者でも, 素子特性の予測シミュレーションが, 簡単に, 且つ従来時間比 約1/10程度で実現可能になった. また, デバイス開発初期段階で, 短時間に詳細な素子設計を行うことができるので, CCD固体撮像素子の高性能化を短期間に実現できる. |
抄録(英) | An automatic simulation system has been developed to analyze automatically basic electric characteristics of CCD image sensor from a process simulation result. By using this system, the total operation and simulation time for device designer with an unfamiliar device simulation has been reduced to about 1/10. Since the system can be performed a detailed device design quickly in the initial stage of development, high performance CCD image sensor can be realized in a short period of time. |
キーワード(和) | シミュレータ / 自動解析 / デバイスシミュレーション / CCD / 素子設計 / 読み出し特性 |
キーワード(英) | simulator / automatic analysis / device simulation / Charge Coupled Device / device design / read-out characteristics |
資料番号 | VLD97-50,ED97-88,SDM97-109,ICD97-125 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | VLD |
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開催期間 | 1997/9/25(から1日開催) |
開催地(和) | |
開催地(英) | |
テーマ(和) | |
テーマ(英) | |
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幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | CCD基本特性自動解析シミュレータの開発 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Development of Automatic Simulation System for Basic CCD Characteristics |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | シミュレータ / simulator |
キーワード(2)(和/英) | 自動解析 / automatic analysis |
キーワード(3)(和/英) | デバイスシミュレーション / device simulation |
キーワード(4)(和/英) | CCD / Charge Coupled Device |
キーワード(5)(和/英) | 素子設計 / device design |
キーワード(6)(和/英) | 読み出し特性 / read-out characteristics |
第 1 著者 氏名(和/英) | 立川 景士 / Keishi Tachikawa |
第 1 著者 所属(和/英) | 松下電子工業(株)プロセス開発センター ULSI Process Technology Center, Matsushita Electronics Corporation |
第 2 著者 氏名(和/英) | 梅田 卓也 / Takuya Umeda |
第 2 著者 所属(和/英) | 松下電子工業(株)プロセス開発センター:(現)松下電器産業(株)半導体先行開発センター:(現)松下電子(株)マイコン事業部 ULSI Process Technology Center, Matsushita Electronics Corporation:(Present adress)Semiconductor Advanced LSI Technology Development Center, Matsushita Electric Industrial |
第 3 著者 氏名(和/英) | 岡田 裕幸 / Hiroyuki Okada |
第 3 著者 所属(和/英) | 松下電子工業(株)プロセス開発センター ULSI Process Technology Center, Matsushita Electronics Corporation:(Present adress)Micro Computer Division, Matsushita Electronics Corporation |
第 4 著者 氏名(和/英) | 小田 嘉則 / Yoshinori Oda |
第 4 著者 所属(和/英) | 松下電子工業(株)プロセス開発センター ULSI Process Technology Center, Matsushita Electronics Corporation |
第 5 著者 氏名(和/英) | 大原 完治 / Kanji Ohara |
第 5 著者 所属(和/英) | 松下電子工業(株)プロセス開発センター ULSI Process Technology Center, Matsushita Electronics Corporation |
発表年月日 | 1997/9/25 |
資料番号 | VLD97-50,ED97-88,SDM97-109,ICD97-125 |
巻番号(vol) | vol.97 |
号番号(no) | 268 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 7 |
発行日 |