講演名 2001/1/19
2次元散乱問題におけるIE-MEI法の適用範囲
廣瀬 雅信, 高田 潤一, 荒井 郁男,
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抄録(和) IE-MEI法はMEI法を積分方程式に適用することにより、散乱体表面上の散乱電界と散乱磁界の間の関係式を求める方法である。この関係式と散乱体表面の境界条件を組み合わせることにより散乱体表面上の等価電流または等価磁流を求めることができる。本報告では、2次元のTE波とTM波の散乱問題に対してこの関係式が成立する範囲を数値計算により検討した。その結果、この関係式が任意媒質の散乱体に対して良い近似で成立すること、完全電気導体とインピーダンス境界条件を満たす散乱体に関しては表面上の等価電流が数%の精度で求まることがわかった。さらに、この関係式の双対性が成立することによりTE波とTM波の散乱問題が同時に解けることを示す。
抄録(英) The IE-MEI method is derived from an integral equation using the MEI method and gives the relation between the electric field and the magnetic field on the surface of a scattering object. Using the relation and the boundary condition on the object, we can obtain the equivalent electric current or the equivalent magnetic current. In this report, we investigate the application ranges of the relation in 2-D scattering problems for TE wave and TM wave, using numerical calculation. The results show that this relation holds for arbitrary material objects to a good approximation, and that the equivalent electric current on a perfectly electric conductor or a scattering object with impedance boundary condition can be obtained within an accuracy of a few percentages. We also show that the duality of the relation makes it possible to solve the problems for a TM wave and the corresponding TE wave simultaneously.
キーワード(和) IE-MEI法 / 双対性 / 散乱問題 / TM波 / TE波
キーワード(英) IE-MEI method / Duality / Scattering Problems / TM waves / TE waves
資料番号 A・P2000-181,SANE2000-162
発行日

研究会情報
研究会 SANE
開催期間 2001/1/19(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Space, Aeronautical and Navigational Electronics (SANE)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 2次元散乱問題におけるIE-MEI法の適用範囲
サブタイトル(和)
タイトル(英) Application Range of the IE-MEI Method to 2-D Scattering Problem
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) IE-MEI法 / IE-MEI method
キーワード(2)(和/英) 双対性 / Duality
キーワード(3)(和/英) 散乱問題 / Scattering Problems
キーワード(4)(和/英) TM波 / TM waves
キーワード(5)(和/英) TE波 / TE waves
第 1 著者 氏名(和/英) 廣瀬 雅信 / Masanobu HIROSE
第 1 著者 所属(和/英) 電子技術総合研究所 光技術部
Optoelectronics Division, Electrotechnical Laboratory
第 2 著者 氏名(和/英) 高田 潤一 / Jun-ichi TAKADA
第 2 著者 所属(和/英) 東京工業大学 電気電子工学専攻
Dept. of Electrical and Electronic Engineering, Tokyo Institute of Technology
第 3 著者 氏名(和/英) 荒井 郁男 / Ikuo ARAI
第 3 著者 所属(和/英) 電気通信大学 電子工学科
Dept. of Electronic Engineering, The University of Electro-Communications
発表年月日 2001/1/19
資料番号 A・P2000-181,SANE2000-162
巻番号(vol) vol.100
号番号(no) 585
ページ範囲 pp.-
ページ数 8
発行日