| 講演名 | 1999/12/17 超解像アルゴリズムを用いた高分解能RCS計測の電波暗室実験による性能評価 堀内 健志, 藤坂 貴彦, 村上 克彦, 高橋 龍平, 井上 正人, |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | レーダ有効反射面積 / 超解像 / レーダ / 信号処理 |
| キーワード(英) | RCS / Super Resolution / Radar / Signal Processing |
| 資料番号 | SANE99-94 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SANE |
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| 開催期間 | 1999/12/17(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Space, Aeronautical and Navigational Electronics (SANE) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 超解像アルゴリズムを用いた高分解能RCS計測の電波暗室実験による性能評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Experimental Performance Evaluation of RCS Measurement Using Super Resolution Algorithm |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | レーダ有効反射面積 / RCS |
| キーワード(2)（和/英） | 超解像 / Super Resolution |
| キーワード(3)（和/英） | レーダ / Radar |
| キーワード(4)（和/英） | 信号処理 / Signal Processing |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 堀内 健志 / Takeshi HORIUCHI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 三菱電機株式会社情報技術総合研究所 Information Technology R&D Center, Mitsubishi Electric Corporation |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 藤坂 貴彦 / Takahiko FUJISAKA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 三菱電機株式会社情報技術総合研究所 Information Technology R&D Center, Mitsubishi Electric Corporation |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 村上 克彦 / Katsuhiko MURAKAMI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 三菱電機株式会社鎌倉製作所 Kamakura Works, Mitsubishi Electric Corporation |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 高橋 龍平 / Ryuhei TAKAHASHI |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 三菱電機株式会社鎌倉製作所 Kamakura Works, Mitsubishi Electric Corporation |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 井上 正人 / Masato INOUE |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 三菱電機株式会社鎌倉製作所 Kamakura Works, Mitsubishi Electric Corporation |
| 発表年月日 | 1999/12/17 |
| 資料番号 | SANE99-94 |
| 巻番号（vol） | vol.99 |
| 号番号（no） | 520 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 8 |
| 発行日 | |