講演名 1999/7/30
120-160GHz帯逆合成開口法による基本形状物標の画像計測
松原 寛人, 木藤 信彦, 鈴木 俊達, 渡辺 康夫,
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抄録(和) サブミリ波は新しい工学応用の研究対象として注目されている。サブミリ波を逆合成開口技術に適用すると分解能はmmオーダとなり、航空機・船舶・自動車等の近距離高分解能画像レーダや構造体の微小変形の非接触計測等の実現が可能となる。これらに向けて、120~160GHz帯逆合成開口法における基本形状物標の画像計測を実施した結果、予測されたダウンレンジ及びクロスレンジ分解能が得られた。並びに4本の金属棒を正方形状に配置した物標に対する画像化では、目視どおりの配置画像が得られるとともにIFFTの処理における窓関数の効果も確認された。
抄録(英) Submillimeter wave has begun to attract notice as a field of new engineering application. The application of submillimeter wave to the inverse synthetic aperture imaging will enable the resolution with the order of millimeter, so as to realize short-range, high resolution imaging radar for airplane, ship and car control, and non-contact structural measurement of minuscule deformation. Toward these applications, a basic imaging experiment of inverse synthetic aperture method at 120-160GHz with basic geometry target was conducted. It is reported at first that the result of the down-range and cross-range resolution were within the predicted values. The second is that, in the image retrieved for four metal poles placed at four corners of a square, the relative position of poles was in good agreement with the aspect of view, and also the effect of window functions on the IFFT processing were confirmed.
キーワード(和) サブミリ波 / ISAR / ベクトル信号計測
キーワード(英) Submillimeter Wave / Inverse Synthetic Aperture Radar (ISAR) / Vector Signal Measurement
資料番号 SANE99-38
発行日

研究会情報
研究会 SANE
開催期間 1999/7/30(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Space, Aeronautical and Navigational Electronics (SANE)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 120-160GHz帯逆合成開口法による基本形状物標の画像計測
サブタイトル(和)
タイトル(英) Inverse Synthetic Aperture Imaging at 120-160GHz for Basic Geometry Target
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) サブミリ波 / Submillimeter Wave
キーワード(2)(和/英) ISAR / Inverse Synthetic Aperture Radar (ISAR)
キーワード(3)(和/英) ベクトル信号計測 / Vector Signal Measurement
第 1 著者 氏名(和/英) 松原 寛人 / Hirohito Matsubara
第 1 著者 所属(和/英) 日本工業大学電気電子工学科
Department of Electrical & Electronics Engineering, Nippon Institute of Technology
第 2 著者 氏名(和/英) 木藤 信彦 / Nobuhiko Kitou
第 2 著者 所属(和/英) 日本工業大学電気電子工学科
Department of Electrical & Electronics Engineering, Nippon Institute of Technology
第 3 著者 氏名(和/英) 鈴木 俊達 / Toshitatsu Suzuki
第 3 著者 所属(和/英) 日本工業大学電気電子工学科
Department of Electrical & Electronics Engineering, Nippon Institute of Technology
第 4 著者 氏名(和/英) 渡辺 康夫 / Yasuo Watanabe
第 4 著者 所属(和/英) 日本工業大学電気電子工学科
Department of Electrical & Electronics Engineering, Nippon Institute of Technology
発表年月日 1999/7/30
資料番号 SANE99-38
巻番号(vol) vol.99
号番号(no) 248
ページ範囲 pp.-
ページ数 5
発行日