| 講演名 | 1998/12/7 改良符号テストを用いた区分的線形回路の全解探索 山村 清隆, 本田 英之, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ | PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 区分的線形回路のすべての解を求める方法として, 符号テストを用いた一連のアルゴリズムが知られている.符号テストとは与えられた領域の中に方程式の解が存在しないための十分条件を与えるもので, このテストを用いて解の存在領域を絞り込んでいくことにより効率よくすべての解を求めることができる.本稿では, このような符号テストアルゴリズムの計算効率を飛躍的に改善する手法を提案する.本手法は, 関数の線形結合に符号テストを適用することにより, 符号テストの領域除去能力を大幅に向上させるものである.ここで線形結合としては, 関数にヤコビ行列の逆行列を掛ける線形結合など, 有効性の根拠が幾何学的に明確となるものを利用する.その結果, 従来の符号テストアルゴリズムでは解くことができなかったより大規模な問題の全解探索が可能となり, この種のアルゴリズムでは初めて, 100変数方程式の全解探索にも成功している. |
| 抄録(英) | Recently, many algorithms have been proposed for finding all solutions of piecewise-linear resistive circuits using a sign test, which is a test for nonexistence of a solution to a system of pieceqise-linear equations in a given rectangular region. In this paper, efficient techniques are proposed for improving the effectiveness of the sign test. In the proposed techniques, the sign test is applied to linear combinations of the single piecewise-linear equations. Effective linear combinations are proposed that make the sign test very powerful. Using the proposed techniques, all solutions of piecewise-linear resistive circuits can be found much more efficiently than the orifinal sign test algorithm. |
| キーワード(和) | 区分的線形回路 / 全解探索 / 符号テスト / 回路解析 |
| キーワード(英) | piecewise-linear circuit / finding all solutions / sign test / circuit analysis |
| 資料番号 | NLP98-85 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | NLP |
|---|---|
| 開催期間 | 1998/12/7(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Nonlinear Problems (NLP) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 改良符号テストを用いた区分的線形回路の全解探索 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Finding All Solutions of Piecewise-Linear Resistive Circuits Using Improved Sign Tests |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 区分的線形回路 / piecewise-linear circuit |
| キーワード(2)（和/英） | 全解探索 / finding all solutions |
| キーワード(3)（和/英） | 符号テスト / sign test |
| キーワード(4)（和/英） | 回路解析 / circuit analysis |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 山村 清隆 / Kiyotaka YAMAMURA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 中央大学理工学部電気・電子工学科 Department of Electrical and Electronic Engineering, Chuo University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 本田 英之 / Hideyuki HONDA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日立電子エンジニアリング(株) Hitachi Electronics Engineering Co. Ltd. |
| 発表年月日 | 1998/12/7 |
| 資料番号 | NLP98-85 |
| 巻番号（vol） | vol.98 |
| 号番号（no） | 443 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 7 |
| 発行日 | |