講演名 | 2000/2/4 WDMオプティカルパス網における故障/劣化区間同定機能の実現 渡辺 篤, 岡本 聡, |
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抄録(和) | WDMオプティカルパス(OP)をベースとしたロバストなフォトニック伝達網の実現を狙いとし、OPレイヤにおける故障 / 劣化区間の同定機構に関する検討を行った。OPの品質指標としてはビット誤り率を採用した。故障 / 劣化区間の同定を迅速にかつ正確に行うためには、中継ノードでのnon-intrusiveなビット誤り率モニタリングが必要である。現状技術においてビット誤り率モニタリングを行うための最適解はフレームベースOPオーバヘッドを用いたビット誤り数(BIP)モニタリングである。最近開発したOP BIPモニタリング回路により取得したBIP誤り数を用いたOPの劣化区間同定の実験結果を報告する。 |
抄録(英) | Fault / degradation section identification for realizing robust WDM optical path-based photonic transport networks is discussed. A recently developed degraded link idetification mechanism that makes use of signal quality monitoring information is also demonstrated. For realizing a robust photonic transport network, three issues related to fault / degradation link identification are discussed; fault / degradation link identification, signal quality in optical path layer, and optical digital frame format. We recently implemented a non-intrusive optical path signal quality monitoring function utilizing frame-based optical path overhead information in a photonic transport system. The number of BIP violations is set as the signal quality index. A degraded optical section identification mechanism that makes use of the monitoring information is implemented and described. |
キーワード(和) | フォトニック伝達網 / オプティカルパス / 波長ルーチング / 波長分割多重 / 故障 / 劣化区間同定 |
キーワード(英) | Photonic transport network / Optical path / Wavelength routing / Wavelength division multiplexing / Fault / degradation identification |
資料番号 | SSE99-152,OCS99-114 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | OCS |
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開催期間 | 2000/2/4(から1日開催) |
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講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Optical Communication Systems (OCS) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | WDMオプティカルパス網における故障/劣化区間同定機能の実現 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | An implementation of a fault/degradation identification mechanism for realizing robust WDM optical path-based photonic transport networks |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | フォトニック伝達網 / Photonic transport network |
キーワード(2)(和/英) | オプティカルパス / Optical path |
キーワード(3)(和/英) | 波長ルーチング / Wavelength routing |
キーワード(4)(和/英) | 波長分割多重 / Wavelength division multiplexing |
キーワード(5)(和/英) | 故障 / Fault |
キーワード(6)(和/英) | 劣化区間同定 / degradation identification |
第 1 著者 氏名(和/英) | 渡辺 篤 / Atsushi Watanabe |
第 1 著者 所属(和/英) | NTT未来ねっと研究所 NTT Network Innovation Laboratories |
第 2 著者 氏名(和/英) | 岡本 聡 / Satoru Okamoto |
第 2 著者 所属(和/英) | NTT未来ねっと研究所 NTT Network Innovation Laboratories |
発表年月日 | 2000/2/4 |
資料番号 | SSE99-152,OCS99-114 |
巻番号(vol) | vol.99 |
号番号(no) | 607 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 6 |
発行日 |