講演名 | 2002/9/13 GND壁センサ構造を有する容量型指紋センサLSIの感度評価 森村 浩季, 重松 智志, 島村 俊重, 佐藤 昇男, 町田 克之, 久良木 億, |
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抄録(和) | きれいな指紋画像を取得するため,グランド(GND)壁センサ構造を有する容量型指紋センサLSIを提案し,その感度について評価した.具体的には,指の抵抗を考慮したセンサ構造の回路モデルを考案し,従来のセンサ構造と比較しながら,指紋センサLSIのセンシング特性を数値解析により計算した.解析結果から,指の抵抗が感度を劣化させることを示し,GND壁センサ構造が指の抵抗を抑えることにより高感度を実現できることを明らかにした.試作チップによる実験結果から,本解析の妥当性と指紋画像取得におけるGND壁センサ構造の効果を示し,GND壁センサ構造を有する指紋センサLSIがきれいな指紋画像を取得するための高感度を達成できると結論づけた. |
抄録(英) | This paper describes the sensitivity to capture fingerprint images on a capacitive fingerprint sensor LSI with a grounded (GND) wall structure. We investigated the sensing characteristics of the fingerprint sensor LSI with the GND wall structure in comparison with that of the conventional planar structure. For the analysis, we proposed circuit models based on the GND wall and the planar structure that take account of the finger's resistance, and calculated numerically the sensing characteristics. The analysis revealed that the resistance of the finger degrades the sensitivity and the GND wall structure provides a high sensitivity because it suppresses the finger's resistance. The experimental results confirmed that the proposed models are appropriate and clarified the effect of the GND wall structure on fingerprint images. Therefore, it is concluded that a fingerprint sensor LSI with the GND wall structure achieves a high sensitivity in capturing clear fingerprint images. |
キーワード(和) | 指紋センサ / GND壁センサ構造 / センサ回路 / 高感度 / 指抵抗 |
キーワード(英) | fingerprint sensor / GND wall structure / sensing circuit / high sensitivity / finger's resistance |
資料番号 | ED2002-199 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | ED |
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開催期間 | 2002/9/13(から1日開催) |
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幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Electron Devices (ED) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | GND壁センサ構造を有する容量型指紋センサLSIの感度評価 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Evaluation of Sensitivity on a Capacitive Fingerprint Sensor LSI with a Grounded Wall Structure |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | 指紋センサ / fingerprint sensor |
キーワード(2)(和/英) | GND壁センサ構造 / GND wall structure |
キーワード(3)(和/英) | センサ回路 / sensing circuit |
キーワード(4)(和/英) | 高感度 / high sensitivity |
キーワード(5)(和/英) | 指抵抗 / finger's resistance |
第 1 著者 氏名(和/英) | 森村 浩季 / Hiroki MORIMURA |
第 1 著者 所属(和/英) | NTTマイクロシステムインテグレーション研究所 NTT Microsystem Integration Laboratories |
第 2 著者 氏名(和/英) | 重松 智志 / Satoshi SHIGEMATSU |
第 2 著者 所属(和/英) | NTTマイクロシステムインテグレーション研究所 NTT Microsystem Integration Laboratories |
第 3 著者 氏名(和/英) | 島村 俊重 / Toshishige SHIMAMURA |
第 3 著者 所属(和/英) | NTTマイクロシステムインテグレーション研究所 NTT Microsystem Integration Laboratories |
第 4 著者 氏名(和/英) | 佐藤 昇男 / Norio SATO |
第 4 著者 所属(和/英) | NTTマイクロシステムインテグレーション研究所 NTT Microsystem Integration Laboratories |
第 5 著者 氏名(和/英) | 町田 克之 / Katsuyuki MACHIDA |
第 5 著者 所属(和/英) | NTTマイクロシステムインテグレーション研究所 NTT Microsystem Integration Laboratories |
第 6 著者 氏名(和/英) | 久良木 億 / Hakaru KYURAGI |
第 6 著者 所属(和/英) | NTTマイクロシステムインテグレーション研究所 NTT Microsystem Integration Laboratories |
発表年月日 | 2002/9/13 |
資料番号 | ED2002-199 |
巻番号(vol) | vol.102 |
号番号(no) | 326 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 6 |
発行日 |