講演名 2001/6/28
A Formation and Characteristics of the Fluorinated Amorphous Carbon Films with Low Dielectric Constant by HDPCVD
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抄録(和)
抄録(英) Fluorinated amorphous carbon (a-C:F) thin films were deposited on a p-type Si(100) substrate using carbon tetrafluoride(CF)_4 and methane(CH_4) mixture gases by an High density plasma chemical vapor deposition(HDPCVD). High density CF_4/CH_4 plasma of about 10^<12> cm^<-3> is obtained at low pressure(200 mTorr) with rf power above 700 W in the ICP source where the CF_4/CH_4 gases are greatly dissociated. Fourier transform infrared(FTIR) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) spectra show that the film has C-F, C-F_2, C-F_3, C-CF_x and C-C bond. The C-F bond in the film may lower the dielectric constant greatly and the C-C crosslinked structure maintained the film's thermal stability. It is found that the C-F bonding configuration changes from a C-F bond to C-CF_x and C-F_3 bonds as a function of CF_4/CH_4 flow rate ratio. Therefore, the reduction mechanism of the dielectric constant can be obtained by the variation of the C-F_x bonding configuration as well as the incorporation of fluorine. The relative dielectric constant, leakage current density, and dielectric breakdown field strength of the film are about 2.4, 7×10^<-12> A/cm^2, and 12 MV/cm, respectively.
キーワード(和)
キーワード(英) HDPCVD / dielectric constant / a-C:F thin film / thermal stability
資料番号 ED2001-66, SDM2001-73
発行日

研究会情報
研究会 ED
開催期間 2001/6/28(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electron Devices (ED)
本文の言語 ENG
タイトル(和)
サブタイトル(和)
タイトル(英) A Formation and Characteristics of the Fluorinated Amorphous Carbon Films with Low Dielectric Constant by HDPCVD
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) / HDPCVD
第 1 著者 氏名(和/英) / Kyoung Suk Oh
第 1 著者 所属(和/英)
Department of Physics, Cheju National University
発表年月日 2001/6/28
資料番号 ED2001-66, SDM2001-73
巻番号(vol) vol.101
号番号(no) 160
ページ範囲 pp.-
ページ数 8
発行日