講演名 | 2000/6/23 低イオン抵抗4kV SiCエピタキシャルPN接合ダイオードの作製 藤平 景子, 田村 聡之, 木本 恒暢, 松波 弘之, |
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抄録(和) | 横型コールドウォールCVDにより厚さ31μmの成長層を形成し、高耐圧SiCエピタキシャルPN接合ダイオードを作製した。n^-層はNドーピング、p層はAlドーピングにより形成した。作製したダイオードは、オン抵抗が4.6mΩcm^2と低い値を示し、耐圧は4.2kVを達成した。この値は現在用いられているSiのPINダイオードと同程度の耐圧で、オン抵抗が約10倍小さいという優れた特性を示している。また、ターンオフ時間が約0.35μsecであり、高速スイッチングが可能である。 |
抄録(英) | The 31 μm thick n^- and p-type epilayers were grown by horizontal cold-wall CVD with nitrogen and aluminum doping, respectively. The diode exhibited a very high breakdown voltage of 4.2 kV with a low on-resistance of 4.6mΩcm^2. This on-resistance is one-order-of-magnitude lower than that of a Si PIN diode with a similar breakdown voltage. The fabricated SiC PN diode showed fast switching with a turn-off time of 0.35μsec. |
キーワード(和) | SiC / PN接合ダイオード / パワーデバイス / オン抵抗 |
キーワード(英) | SiC / PN junction diode / Power device / On-resistance |
資料番号 | ED2000-81,SDM2000-81 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | ED |
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開催期間 | 2000/6/23(から1日開催) |
開催地(和) | |
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幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Electron Devices (ED) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 低イオン抵抗4kV SiCエピタキシャルPN接合ダイオードの作製 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | ED2000-81 / SDM2000-81 A 4 kV SiC Epitaxial PN Junction Diode with a Low On-resistance |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | SiC / SiC |
キーワード(2)(和/英) | PN接合ダイオード / PN junction diode |
キーワード(3)(和/英) | パワーデバイス / Power device |
キーワード(4)(和/英) | オン抵抗 / On-resistance |
第 1 著者 氏名(和/英) | 藤平 景子 / K. Fujihira |
第 1 著者 所属(和/英) | 京都大学 工学研究科 Department of Electronic Science and Engineering, Kyoto University |
第 2 著者 氏名(和/英) | 田村 聡之 / S. Tamura |
第 2 著者 所属(和/英) | 京都大学 工学研究科 Department of Electronic Science and Engineering, Kyoto University |
第 3 著者 氏名(和/英) | 木本 恒暢 / T. Kimoto |
第 3 著者 所属(和/英) | 京都大学 工学研究科 Department of Electronic Science and Engineering, Kyoto University |
第 4 著者 氏名(和/英) | 松波 弘之 / H. Matsunami |
第 4 著者 所属(和/英) | 京都大学 工学研究科 Department of Electronic Science and Engineering, Kyoto University |
発表年月日 | 2000/6/23 |
資料番号 | ED2000-81,SDM2000-81 |
巻番号(vol) | vol.100 |
号番号(no) | 149 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 6 |
発行日 |