講演名 2000/6/23
低イオン抵抗4kV SiCエピタキシャルPN接合ダイオードの作製
藤平 景子, 田村 聡之, 木本 恒暢, 松波 弘之,
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抄録(和) 横型コールドウォールCVDにより厚さ31μmの成長層を形成し、高耐圧SiCエピタキシャルPN接合ダイオードを作製した。n^-層はNドーピング、p層はAlドーピングにより形成した。作製したダイオードは、オン抵抗が4.6mΩcm^2と低い値を示し、耐圧は4.2kVを達成した。この値は現在用いられているSiのPINダイオードと同程度の耐圧で、オン抵抗が約10倍小さいという優れた特性を示している。また、ターンオフ時間が約0.35μsecであり、高速スイッチングが可能である。
抄録(英) The 31 μm thick n^- and p-type epilayers were grown by horizontal cold-wall CVD with nitrogen and aluminum doping, respectively. The diode exhibited a very high breakdown voltage of 4.2 kV with a low on-resistance of 4.6mΩcm^2. This on-resistance is one-order-of-magnitude lower than that of a Si PIN diode with a similar breakdown voltage. The fabricated SiC PN diode showed fast switching with a turn-off time of 0.35μsec.
キーワード(和) SiC / PN接合ダイオード / パワーデバイス / オン抵抗
キーワード(英) SiC / PN junction diode / Power device / On-resistance
資料番号 ED2000-81,SDM2000-81
発行日

研究会情報
研究会 ED
開催期間 2000/6/23(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electron Devices (ED)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 低イオン抵抗4kV SiCエピタキシャルPN接合ダイオードの作製
サブタイトル(和)
タイトル(英) ED2000-81 / SDM2000-81 A 4 kV SiC Epitaxial PN Junction Diode with a Low On-resistance
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) SiC / SiC
キーワード(2)(和/英) PN接合ダイオード / PN junction diode
キーワード(3)(和/英) パワーデバイス / Power device
キーワード(4)(和/英) オン抵抗 / On-resistance
第 1 著者 氏名(和/英) 藤平 景子 / K. Fujihira
第 1 著者 所属(和/英) 京都大学 工学研究科
Department of Electronic Science and Engineering, Kyoto University
第 2 著者 氏名(和/英) 田村 聡之 / S. Tamura
第 2 著者 所属(和/英) 京都大学 工学研究科
Department of Electronic Science and Engineering, Kyoto University
第 3 著者 氏名(和/英) 木本 恒暢 / T. Kimoto
第 3 著者 所属(和/英) 京都大学 工学研究科
Department of Electronic Science and Engineering, Kyoto University
第 4 著者 氏名(和/英) 松波 弘之 / H. Matsunami
第 4 著者 所属(和/英) 京都大学 工学研究科
Department of Electronic Science and Engineering, Kyoto University
発表年月日 2000/6/23
資料番号 ED2000-81,SDM2000-81
巻番号(vol) vol.100
号番号(no) 149
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日