| 講演名 | 1999/7/22 A 1.8GHz Driver Amp Design and Production DC Screening Techniques for RF Performances of Bipolar ICs , |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | A novel approach for DC screening of the monolithic silicon bipolar RFICs for noise figure (NF) and power gain (S_<21>) is presented. The proposed technique, which is applied to a 1.8 GHz driver amp, demonstrates excellent correlation between the resistance of a proposed r_b test structure and the NF and S_<21> of the RFIC. This study show that setting a limit on the base resistance of bipolar junction transistors (BJTs) is effective in screening the AC performances of any RFICs as well as transistors. |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | Driver Amp / RF IC / Bipolar Junction Transistor / Noise Figure / Power Gain |
| 資料番号 | ED99-107 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ED |
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| 開催期間 | 1999/7/22(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electron Devices (ED) |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A 1.8GHz Driver Amp Design and Production DC Screening Techniques for RF Performances of Bipolar ICs |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | / Driver Amp |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | / Sang-Gug Lee |
| 第 1 著者 所属（和/英） | Information and Communications University |
| 発表年月日 | 1999/7/22 |
| 資料番号 | ED99-107 |
| 巻番号（vol） | vol.99 |
| 号番号（no） | 229 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |