| 講演名 | 1994/4/22 一電子帯電効果 大塚 洋一, |
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| 抄録(和) | 小さな接合容量をもつ微小なトンネル接合では、素電荷による帯電エネルギーが熱エネルギーを凌駕し、このためトンネルが禁止される状況が生じ得る。この原理を利用すれば電子1個で電流, 電圧を制御するデバイスを実現できる可能性があり、近年精力的に研究が進められている。本講演では単一電子帯電効果に関連した幾つかの基礎的な事項について紹介する。 |
| 抄録(英) | In a tunnel junction having a very small capacitance,the charing energy by an elementary charge e can be greater than the thermal energy,and it forbids an electron tuuneling through the junction. This principle includes a possibility to reailze the single- electron devices,and the investigation has begun in many labolatories recent years.The auther is going to talk about several basic topics concerning the single electron charging effects. |
| キーワード(和) | 微小トンネル接合 / 一電子帯電効果 / 単電子デバイス |
| キーワード(英) | Small tunnel junction / single electron charging effect / single electron devices |
| 資料番号 | ED94-1 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ED |
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| 開催期間 | 1994/4/22(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electron Devices (ED) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 一電子帯電効果 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Single Electron charging effects |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 微小トンネル接合 / Small tunnel junction |
| キーワード(2)（和/英） | 一電子帯電効果 / single electron charging effect |
| キーワード(3)（和/英） | 単電子デバイス / single electron devices |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 大塚 洋一 / Youiti Ootuka |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東京大学低温センター Cryogenic Center,University of Tokyo |
| 発表年月日 | 1994/4/22 |
| 資料番号 | ED94-1 |
| 巻番号（vol） | vol.94 |
| 号番号（no） | 22 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 8 |
| 発行日 | |