講演名 | 1999/1/22 高V_fEモードFETにおける高ドレイン電流化の検討 原 直紀, 中舎 安宏, 長原 正樹, 常信 和清, 渡邊 祐, 滝川 正彦, |
|
---|---|---|
PDFダウンロードページ | PDFダウンロードページへ | |
抄録(和) | 携帯端末用単一電源動作パワー増幅器に用いるために、順方向ゲート立上り電圧(V_f)を高い値に維持しつつ、高ドレイン電流化が可能な新しいEモード埋め込みゲートFET構造を開発した。ゲート順方向電流経路がゲート-ソース間距離(Ls)によらず一定となるような構造をとることで、V_fの低下を招かずにLsの短縮を可能とし、それに応じてドレイン電流が約50%増加した。V_ | =0.32Vの新構造FETのパワー特性を評価した結果、周波数850MHz、V_ |
抄録(英) | We developed a new type of E-mode FETs which provide single-voltage operation of power amplifiers in portable phone handsets. Gate current paths were optimized, and a high gate-turn-on voltage and a high drain current density were obtained at the same time. This allows a 50% increase of the drain current by shortening the gate-to-source length without increasing the gate leakage current. We applied this technique to completely E-mode FETs(V_ | >0.3 V). A power added efficiency as high as 70.6% has been achieved for an output power of 33 dBm under a V_ |
キーワード(和) | 完全EモードFET / 単一電源動作 / パワー増幅器 / 高V_f / 高ドレイン電流 | |
キーワード(英) | Completely E-mode FET / Single supply voltage / Power amplifier / High V_f / High drain current | |
資料番号 | ED98-214,MW98-177,ICD98-281 | |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | ED |
---|---|
開催期間 | 1999/1/22(から1日開催) |
開催地(和) | |
開催地(英) | |
テーマ(和) | |
テーマ(英) | |
委員長氏名(和) | |
委員長氏名(英) | |
副委員長氏名(和) | |
副委員長氏名(英) | |
幹事氏名(和) | |
幹事氏名(英) | |
幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Electron Devices (ED) |
---|---|
本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 高V_fEモードFETにおける高ドレイン電流化の検討 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Gate Current Path Optimized E-Mode FET Structure with High Drain Current Density and High Gate-turn-on Voltage |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | 完全EモードFET / Completely E-mode FET |
キーワード(2)(和/英) | 単一電源動作 / Single supply voltage |
キーワード(3)(和/英) | パワー増幅器 / Power amplifier |
キーワード(4)(和/英) | 高V_f / High V_f |
キーワード(5)(和/英) | 高ドレイン電流 / High drain current |
第 1 著者 氏名(和/英) | 原 直紀 / Naoki Hara |
第 1 著者 所属(和/英) | 株式会社富士通研究所 Fujitsu Laboratories Ltd., |
第 2 著者 氏名(和/英) | 中舎 安宏 / Yasuhiro Nakasha |
第 2 著者 所属(和/英) | 株式会社富士通研究所 Fujitsu Laboratories Ltd., |
第 3 著者 氏名(和/英) | 長原 正樹 / Masaki Nagahara |
第 3 著者 所属(和/英) | 富士通カンタムデバイス株式会社 Fujitsu Quantum Device Ltd., |
第 4 著者 氏名(和/英) | 常信 和清 / Kazukiyo Joshin |
第 4 著者 所属(和/英) | 株式会社富士通研究所 Fujitsu Laboratories Ltd., |
第 5 著者 氏名(和/英) | 渡邊 祐 / Yuu Watanabe |
第 5 著者 所属(和/英) | 株式会社富士通研究所 Fujitsu Laboratories Ltd., |
第 6 著者 氏名(和/英) | 滝川 正彦 / Masahiko Takikawa |
第 6 著者 所属(和/英) | 株式会社富士通研究所 Fujitsu Laboratories Ltd., |
発表年月日 | 1999/1/22 |
資料番号 | ED98-214,MW98-177,ICD98-281 |
巻番号(vol) | vol.98 |
号番号(no) | 519 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 6 |
発行日 |