講演名 1993/11/18
STMによる微傾斜基板上MOCVD成長GaAsのステップ構造の観察
嘉数 誠, 小林 直樹,
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抄録(和) 高真空走査型トンネル顕微鏡(STM)を用いて、(001)微傾斜基板上に有機金属気相成長法(MOCVD)で成長したGaAs表面のステップ構造を観察した。MOCVD装置に結合させた真空チャンバーで成長表面をAsパッシベーションすることにより、成長表面を酸化させずに高真空STM装置へ移送し、初めて単分子層ステップを観察することができた。[110]方向に微傾斜した面上のステップ(Aステップ)は[1^^-10]方向に微傾斜した面上のステップ(Bステップ)に比べ揺らぎの大きさがほぼ2倍であることがわかった。微傾斜角度が7.0°以下の基板上で575℃以上650℃以下の成長温度範囲でステップバンチングがおこり、(001)面テラスと約10°の角度をもつファセットで構成される表面構造になった。さらに530℃で拡散係数の減少に伴う、[110]方向に約1.5倍の長半径をもった楕円形の二次元アイランドの出現を観察した。
抄録(英) Using scanning tunneling microscopy(STM),we study the step structure of metalorganic chemical vapor deposition(MOCVD)- grown(001)GaAs on a vicinal substrate for the first time.The undulation amplitude of the monolayer steps grown on a surface misoriented in the£110!direction(A step)is about twice that of the se grown on a surface misoriented in the£1^^-10!direction(B step). On a substrate at misorientation angles≦7.0°,step bunching occurs and the vicinal surface decomposed into(001)terraces and facets on which steps bunch when 575℃≦growth temperature(Tg)≦650℃;and ell iptical islands appear between the monolayer steps due to a decrease of Ga diffusion coefficient at Tg=530℃.
キーワード(和) STM / MOCVD / 単分子層ステップ / GaAs / ステップバンチング / 表面拡散
キーワード(英) STM / MOCVD / Monolayer step / GaAs / Step bunching / Surface diffusion
資料番号 ED93-115,CPM93-86
発行日

研究会情報
研究会 ED
開催期間 1993/11/18(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electron Devices (ED)
本文の言語 JPN
タイトル(和) STMによる微傾斜基板上MOCVD成長GaAsのステップ構造の観察
サブタイトル(和)
タイトル(英) Scanning tunneling microscopy study of GaAs step structures on vicinal substrate grown by metalorganic chemical vapor deposition
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) STM / STM
キーワード(2)(和/英) MOCVD / MOCVD
キーワード(3)(和/英) 単分子層ステップ / Monolayer step
キーワード(4)(和/英) GaAs / GaAs
キーワード(5)(和/英) ステップバンチング / Step bunching
キーワード(6)(和/英) 表面拡散 / Surface diffusion
第 1 著者 氏名(和/英) 嘉数 誠 / Makoto Kasu
第 1 著者 所属(和/英) NTT基礎研究所
NTT Basic Research Laboratories
第 2 著者 氏名(和/英) 小林 直樹 / Naoki Kobayashi
第 2 著者 所属(和/英) NTT基礎研究所
NTT Basic Research Laboratories
発表年月日 1993/11/18
資料番号 ED93-115,CPM93-86
巻番号(vol) vol.93
号番号(no) 325
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日