| 講演名 | 1993/6/24 短チャネル低電源電圧CMOS回路における負荷容量の動的評価法 藤島 実, 浅田 邦博, |
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| 抄録(和) | 短チャネル低電源電圧CMOS回路のための評価法を提案した。本手法では、実際の動作状態での負荷容量を計算するため、インバータ列回路を用いている。その結果、本方法を用いれば、短チャネルCMOS回路で問題となる静的なリーク電流の影響を受けずに負荷容量を算出できる事がわかった。 |
| 抄録(英) | A reliable characterization method is proposed for evaluating effective load capacitance,effective current drivability and effective leak current in dynamic operation.In this method,two test structures are utilized in order to make the evaluation reliable;one is an open-loop inverter array for extracting parameters and the other is a conventional closed-loop ring oscillator for confirmation.The method is easily extended for general high-speed circuits such as ECL and compound-semiconductor circuits though CMOS circuits are used in this paper. |
| キーワード(和) | CMOS / 評価法 / 低電源 / 短チャネル |
| キーワード(英) | CMOS / Characterization / Low Voltage / Short channel |
| 資料番号 | ED93-35,ICD93-34 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ED |
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| 開催期間 | 1993/6/24(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electron Devices (ED) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 短チャネル低電源電圧CMOS回路における負荷容量の動的評価法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Dynamic Characterization Method for Load Capacitances of Chort- channel CMOS Circuits on Low Voltage Operation |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | CMOS / CMOS |
| キーワード(2)（和/英） | 評価法 / Characterization |
| キーワード(3)（和/英） | 低電源 / Low Voltage |
| キーワード(4)（和/英） | 短チャネル / Short channel |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 藤島 実 / Minoru Fujishima |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東京大学工学部 Faculty of Engineering,the University of Tokyo |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 浅田 邦博 / Kunihiro Asada |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東京大学工学部 Faculty of Engineering,the University of Tokyo |
| 発表年月日 | 1993/6/24 |
| 資料番号 | ED93-35,ICD93-34 |
| 巻番号（vol） | vol.93 |
| 号番号（no） | 111 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 7 |
| 発行日 | |