| 講演名 | 1995/6/23 LSIテスタによる高速メモリマクロセルの一試験法 柴田 信太郎, 石原 隆子, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ | PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 高速なメモリマクロセルの性能をLSIテスタで評価する技術について述べた。バッファとセレクタから成る付加回路をマクロセルに近接配置することで、TEGチップの入出力バッファからマクロセルに至る配線遅延を入出力バッファの遅延として更正することを可能にした。高速メモリ評価用入力バッファとして、5ns以下のライトパルス幅等の測定に必要な短パルス入力バッファ、位相差を用いた高速信号入力バッファ等を提案した。また、これらの入力バッファを用いたデータセットアップ時間とホールド時間の測定法、そして高速メモリ用試験パターンを示した。最後に、本テスト技術を用いて200MHz動作のSRAMマクロセルを評価し、その有効性を示した。 |
| 抄録(英) | The design and testing of memory macrocell TEG's were described. TEG configuration for small signal skews was presented. The wiring delay in TEG chips was compensated by inner buffers and macrocell-output selectors, which abut on macrocells. A narrow-pulse input buffer for a write signal and a differential-phase type input buffer for a high-frequency clock signal were proposed. The set-up-time and hold-time measurement strategy and algorithmic test patterns for high-operating-frequency memory macrocells were shown. These techniques were employed to test a synchronous SRAM macrocell with a LSI test system, and 200-MHz operation was demonstrated. |
| キーワード(和) | LSI / 試験 / 評価 / 高速 / テスタ / マクロセル |
| キーワード(英) | LSI / test / measurement / fast / test system / macrocell |
| 資料番号 | |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ED |
|---|---|
| 開催期間 | 1995/6/23(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electron Devices (ED) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | LSIテスタによる高速メモリマクロセルの一試験法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Fast-Memory-Macrocell Testing Techniques with LSI Test Systems |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | LSI / LSI |
| キーワード(2)（和/英） | 試験 / test |
| キーワード(3)（和/英） | 評価 / measurement |
| キーワード(4)（和/英） | 高速 / fast |
| キーワード(5)（和/英） | テスタ / test system |
| キーワード(6)（和/英） | マクロセル / macrocell |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 柴田 信太郎 / Nobutaro Shibata |
| 第 1 著者 所属（和/英） | NTT LSI研究所 NTT LSI Laboratories |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 石原 隆子 / Takako Ishihara |
| 第 2 著者 所属（和/英） | NTT LSI研究所 NTT LSI Laboratories |
| 発表年月日 | 1995/6/23 |
| 資料番号 | |
| 巻番号（vol） | vol.95 |
| 号番号（no） | 117 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 8 |
| 発行日 | |