| 講演名 | 2001/12/14 アナログBOST(Built-Out-Self-Test) : システムLSI時代の超低コストアナログテスト技術(<特集テーマ>:「LSIシステムの実装・モジュール化, テスト技術, 一般) 長澤 秀和, 花井 寿佳, 山下 栄作, 船倉 輝彦, 森 長也, |
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| 抄録(和) | システムLSIの多機能化に伴い、様々なテスト手法が提案される中、我々は、アナログ回路部分のテスト手法として、BOST(Built-Out Self Test)に着目し、ロジックテスタを用いた安価なテストソリューションを提唱する。この手法の特徴としては、従来の高機能ミクストシグナルテスタや、機能に応じたテスタを使用するテスト工程の複雑化に対して、安価なテスタによる高精度、短時間のアナログテストを提供することであり、設備投資の削減が実現可能ということである。本論文では、アナログBOSTの基本機能を提案するとともに、その効果の検証結果を紹介する。 |
| 抄録(英) | While the various test methods are proposed with multi-functionalization of a system LSI, paying attention to the method of BOST(Built-Out Self Test), the low-cost test solution using the logic tester is proposed and proved as the test technique of an analog circuit portion. It is offering the analog test of high precision with a low-cost tester, and a short time to complication of the test process that uses the conventional highly efficient mixed signal tester and the tester according to the function as a feature of this technique, and it is possible to realize curtailment of plant-and-equipment investment. In this paper, while proposing the basic function of Analog BOST, verfication result of the effect is introduced. |
| キーワード(和) | BOST / システムLSI / 自己診断 / アナログテスト / 低コストテスト |
| キーワード(英) | BOST / System LSI / Self Test / Analog Test / Low-cost testing |
| 資料番号 | CPM-128,ICD-180 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPM |
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| 開催期間 | 2001/12/14(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Component Parts and Materials (CPM) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | アナログBOST(Built-Out-Self-Test) : システムLSI時代の超低コストアナログテスト技術(<特集テーマ>:「LSIシステムの実装・モジュール化, テスト技術, 一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Analog BOST(Built-Out Self-Test) : Super low-cost analog test technology of a system LSI era |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | BOST / BOST |
| キーワード(2)（和/英） | システムLSI / System LSI |
| キーワード(3)（和/英） | 自己診断 / Self Test |
| キーワード(4)（和/英） | アナログテスト / Analog Test |
| キーワード(5)（和/英） | 低コストテスト / Low-cost testing |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 長澤 秀和 / Hidekazu NAGASAWA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 三菱電機株式会社 半導体生産・技術統括部 テスト技術部 Department of Test Engineering Manufacturing & Techonology Production Management Division Mitsubishi Electric Corporation |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 花井 寿佳 / Hisayoshi HANAI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 三菱電機株式会社 半導体生産・技術統括部 テスト技術部 Department of Test Engineering Manufacturing & Techonology Production Management Division Mitsubishi Electric Corporation |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 山下 栄作 / Eisaku YAMASHITA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 三菱電機株式会社 半導体生産・技術統括部 テスト技術部:菱電セミコンダクタシステムエンジニアリング株式会社 生産システム技術部 Department of Test Engineering Manufacturing & Techonology Production Management Division Mitsubishi Electric Corporation:Ryoden Semiconductor System Engineering Corporation |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 船倉 輝彦 / Teruhiko FUNAKURA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 三菱電機株式会社 半導体生産・技術統括部 テスト技術部 Department of Test Engineering Manufacturing & Techonology Production Management Division Mitsubishi Electric Corporation |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 森 長也 / Hisaya MORI |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 三菱電機株式会社 半導体生産・技術統括部 テスト技術部:菱電セミコンダクタシステムエンジニアリング株式会社 生産システム技術部 Department of Test Engineering Manufacturing & Techonology Production Management Division Mitsubishi Electric Corporation:Ryoden Semiconductor System Engineering Corporation |
| 発表年月日 | 2001/12/14 |
| 資料番号 | CPM-128,ICD-180 |
| 巻番号（vol） | vol.101 |
| 号番号（no） | 517 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | |