講演名 1998/10/29
スパッタ法による磁気記録媒体用Cr下地膜の微細構造制御法の検討
清水 英彦, 稲田 晋, 坂田 岳志, 星 陽一, 加藤 景三, 金子 双男,
PDFダウンロードページ PDFダウンロードページへ
抄録(和) 到達真空度が10^<-9>Torr台の対向ターゲット式スパッタ装置及び到達真空度が10^<-7>Torr台のマグネトロンスパッタ装置を用いて約36nm/minの堆積速度でDCスパッタによりガラス基板上に厚さ約10nm~40nmのCr薄膜を堆積した。その結果、通常のマグネトロンスパッタ装置では250℃の基板温度で完全な(100)配向膜を得ることができなかったのに対し、対向ターゲット式スパッタ装置では、10nmの厚さでも完全な(100)配向膜を得ることができた。また、対向ターゲット式スパッタ法で得られたCr膜の結晶粒径はマグネトロンスパッタ法の膜と比較して、半分以下と小さく、(100)配向性が良好で、かつ小さな粒径の膜が得られることが明らかとなった。
抄録(英) In this study, the Cr thin films were deposited on glass slide substrates at 36 nm/min of deposition rate using an DC facing targets sputtering (FTS) system and a conventional DC magnetron sputtering (MS) system. The base pressure of the FTS system was less than 7.0×10<-9> Torr and that of the MS system was less than 4.5×10<-7> Torr. The Cr film deposited at 250℃ by the MS system had poor (100) orientation, whereas the Cr film deposited by the FTS system had excellent (100) texture. The Cr film deposited by the FTS system had a much smaller crystallite size below 15 nm than the Cr film deposited by the MS system which had crystallite size of about 25 nm.
キーワード(和) 対向ターゲット式スパッタ法 / マグネトロンスパッタ法 / Cr薄膜 / Arガス圧 / (100)配向性 / 結晶粒径
キーワード(英) FTS system / MS system / Cr thin film / Ar gas pressure / (100) orientation / crystallite size
資料番号 CPM98-117
発行日

研究会情報
研究会 CPM
開催期間 1998/10/29(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Component Parts and Materials (CPM)
本文の言語 JPN
タイトル(和) スパッタ法による磁気記録媒体用Cr下地膜の微細構造制御法の検討
サブタイトル(和)
タイトル(英) Control of microstructure of Cr underlayer for magnetic recording media by sputtering
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 対向ターゲット式スパッタ法 / FTS system
キーワード(2)(和/英) マグネトロンスパッタ法 / MS system
キーワード(3)(和/英) Cr薄膜 / Cr thin film
キーワード(4)(和/英) Arガス圧 / Ar gas pressure
キーワード(5)(和/英) (100)配向性 / (100) orientation
キーワード(6)(和/英) 結晶粒径 / crystallite size
第 1 著者 氏名(和/英) 清水 英彦 / H. Shimizu
第 1 著者 所属(和/英) 新潟大学
Niigata University
第 2 著者 氏名(和/英) 稲田 晋 / S. Inada
第 2 著者 所属(和/英) 東京工芸大学
Tokyo Institute of Polytechnics
第 3 著者 氏名(和/英) 坂田 岳志 / T. Sakata
第 3 著者 所属(和/英) 東京工芸大学
Tokyo Institute of Polytechnics
第 4 著者 氏名(和/英) 星 陽一 / Y. Hoshi
第 4 著者 所属(和/英) 東京工芸大学
Tokyo Institute of Polytechnics
第 5 著者 氏名(和/英) 加藤 景三 / K. Kato
第 5 著者 所属(和/英) 新潟大学
Niigata University
第 6 著者 氏名(和/英) 金子 双男 / F. Kaneko
第 6 著者 所属(和/英) 新潟大学
Niigata University
発表年月日 1998/10/29
資料番号 CPM98-117
巻番号(vol) vol.98
号番号(no) 376
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日