講演名 1993/9/16
SiCl_4のプラズマCVDによる多結晶Si及びSiC薄膜
田中 裕之, 本間 敏男, 上村 喜一, 小沼 義治,
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抄録(和) 一般にSi薄膜生成用ソースガスとしてSiH_4が広く用いられているがその取扱いには困難さが伴うため、本研究では、ソースガスとして水素希釈SiCl_4を用いたプラズマ気相成長法によりSi薄膜を生成し、X線回折測定、光吸収測定やホール効果測定等より結晶性、光学的、電気的諸特性について評価を行った。更に、CH_4を加えて生成したSiC薄膜についても同様の評価を行った。
抄録(英) Polycrystalline Silicon and silicon Carbide thin films were deposited by plasma-assisted chemical vapor deposition using SiCl_ 4 as a source gas.The method developed in this work is more safely controllable than the method using SiH_4,which has been widely used as a source gas for deposition of Si and SiC.The samples obtaind in this study,were characterized by X-ray deffraction, photo-absorption measurement and Hall effect measurement.
キーワード(和) 多結晶シリコン薄膜 / 多結晶炭化珪素薄膜 / プラズマCVD / SiCl_4
キーワード(英) Polycrystalline Si thin film / Polycrystalline SiC thin film / Plasma CVD / SiCl_4
資料番号 CPM93-61
発行日

研究会情報
研究会 CPM
開催期間 1993/9/16(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Component Parts and Materials (CPM)
本文の言語 JPN
タイトル(和) SiCl_4のプラズマCVDによる多結晶Si及びSiC薄膜
サブタイトル(和)
タイトル(英) Polycrystalline Si and SiC thin films by plasma-CVD using SiCl_4 gas
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 多結晶シリコン薄膜 / Polycrystalline Si thin film
キーワード(2)(和/英) 多結晶炭化珪素薄膜 / Polycrystalline SiC thin film
キーワード(3)(和/英) プラズマCVD / Plasma CVD
キーワード(4)(和/英) SiCl_4 / SiCl_4
第 1 著者 氏名(和/英) 田中 裕之 / Hiroyuki Tanaka
第 1 著者 所属(和/英) 信州大学工学部
Faculty of Engineering,Shinshu University
第 2 著者 氏名(和/英) 本間 敏男 / Toshio Homma
第 2 著者 所属(和/英) 信州大学工学部
Faculty of Engineering,Shinshu University
第 3 著者 氏名(和/英) 上村 喜一 / Kiichi Kamimura
第 3 著者 所属(和/英) 信州大学工学部
Faculty of Engineering,Shinshu University
第 4 著者 氏名(和/英) 小沼 義治 / Yoshiharu Onuma
第 4 著者 所属(和/英) 信州大学工学部
Faculty of Engineering,Shinshu University
発表年月日 1993/9/16
資料番号 CPM93-61
巻番号(vol) vol.93
号番号(no) 222
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日