講演名 1995/8/4
ボルタンメトリーによるフラーレン薄膜の評価
吉山 信成, 遠藤 拓, 山本 寛,
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抄録(和) 新機能性電子材料としてフラーレン化合物が注目を集めている。本研究では、C_<60>薄膜あるいはC_<60>/C_<70>混合薄膜に対して、サイクリックボルタンメトリーをベースとした電気化学的アプローチによる物性評価を試みた。非水有機溶媒を用いた系において、C_<60>多価イオン状態への遷移に対応する4対の酸化還元波を観測した。サイクリックな測定の結果、第一還元波の電位は特異な変化を示した。その電位変化量は膜の結晶構造に関係していることが明らかになった。
抄録(英) Fullerene compounds have been mentioned as a new class of functional electronic materials. In this work, evaluations for material properties of C_<60> and/or C_<60>/C_<70> thin films have been done by an electrochemical approach based on a cyclic voltammetry method. Four redox waves which correspond to transitions between multivalence states of C_<60> were observed in a solution system of nonaqueous organic electrolyte. After several cyclic measurements the potential of the first reduction wave showed a characteristic change of which the value was related to the crystal structure of the film.
キーワード(和) C_<60>薄膜 / 電気化学 / サイクリックボルタンメトリー / 酸化還元 / 結晶構造
キーワード(英) C_<60> thin film / electrochemistry / cyclic voltammetry / redox / crystal structure
資料番号
発行日

研究会情報
研究会 CPM
開催期間 1995/8/4(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Component Parts and Materials (CPM)
本文の言語 JPN
タイトル(和) ボルタンメトリーによるフラーレン薄膜の評価
サブタイトル(和)
タイトル(英) Evaluation of Fullerene films by voltammetry
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) C_<60>薄膜 / C_<60> thin film
キーワード(2)(和/英) 電気化学 / electrochemistry
キーワード(3)(和/英) サイクリックボルタンメトリー / cyclic voltammetry
キーワード(4)(和/英) 酸化還元 / redox
キーワード(5)(和/英) 結晶構造 / crystal structure
第 1 著者 氏名(和/英) 吉山 信成 / Nobunari Yoshiyama
第 1 著者 所属(和/英) 日本大学理工学部
College of Sci. & Technol., Nihon University
第 2 著者 氏名(和/英) 遠藤 拓 / Hiraku Endo
第 2 著者 所属(和/英) 日本大学理工学部
College of Sci. & Technol., Nihon University
第 3 著者 氏名(和/英) 山本 寛 / Hiroshi Yamamoto
第 3 著者 所属(和/英) 日本大学理工学部
College of Sci. & Technol., Nihon University
発表年月日 1995/8/4
資料番号
巻番号(vol) vol.95
号番号(no) 204
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日