| 講演名 | 1998/3/13 ICカードの高信頼・高耐久化と耐タンパー 竹田 忠雄, 伴 弘司, 海野 秀之, 前田 正彦, |
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| 抄録(和) | これまでのICカード開発では, 磁気カードに対抗すべく低コスト化に重点が置かれて来たが, 電子マネーに代表される電子商取引の用途などでは, 高度な暗号処理による認証機能や複数のアプリケーションへの適応性(多目的化), 高セキュリティ(耐タンパー)性が強く求められ始めている.また, ICカードの物理的特性や耐久性試験はISOやJISなどで規格化されているが, 電子マネーやプリペイド・カードのようなアプリケーションに対しては必ずしも十分ではなく, 信頼性、耐久性の向上も大きな課題となっている.本報告では, ICカードの耐タンパー化, 高信頼・高耐久化並びにその評価法について述べる. |
| 抄録(英) | Ic cards for electric commerce are required to perform well and have high tamper resistance because data-encryption for authentication and digital signature should be processed quickly and securely. Both the physical properties of IC cards and endurance test methods for IC cards have already been standardized in ISO, JIS and so on. However, those standards are not good for several kinds of applications like electric money and pre-paid cards. Thererfore, methods for evaluating on IC card's tamper resistance and endurance were developed. |
| キーワード(和) | ICカード / 耐タンパー / 信頼性 / 耐久性 / 電子商取引 |
| キーワード(英) | IC card / Tamper resistance / Reliability / Endurance / Electric commerce |
| 資料番号 | |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPM |
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| 開催期間 | 1998/3/13(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Component Parts and Materials (CPM) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ICカードの高信頼・高耐久化と耐タンパー |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Improvements in the tamper resistance, reliability and endurance of IC cards and methods for evaluating these characteristics |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ICカード / IC card |
| キーワード(2)（和/英） | 耐タンパー / Tamper resistance |
| キーワード(3)（和/英） | 信頼性 / Reliability |
| キーワード(4)（和/英） | 耐久性 / Endurance |
| キーワード(5)（和/英） | 電子商取引 / Electric commerce |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 竹田 忠雄 / Tadao Takeda |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社システムエレクトロニクス研究所 NTT System Electronics Laboratories |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 伴 弘司 / Hiroshi Ban |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社システムエレクトロニクス研究所 NTT System Electronics Laboratories |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 海野 秀之 / Hideyuki Unno |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社システムエレクトロニクス研究所 NTT System Electronics Laboratories |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 前田 正彦 / Masahiko Maeda |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社システムエレクトロニクス研究所 NTT System Electronics Laboratories |
| 発表年月日 | 1998/3/13 |
| 資料番号 | |
| 巻番号（vol） | vol.97 |
| 号番号（no） | 601 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |