| 講演名 | 1998/3/13 光アクセスシステム用PLC型光部品の信頼性 花房 廣明, 井上 靖之, 塙 文明, 高戸 範夫, 山田 泰文, 加藤 邦治, 東盛 裕一, 加藤 和利, |
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| 抄録(和) | 光アクセスシステム用のPLC型光スプリッタとPLCハイブリッド集積型WDM光送受信モジュールの信頼性を評価し, 以下のことを明らかにした.(1)光スプリッタについて各種高温高湿環境で寿命試験を行い, 60℃40%RHの環境で30年使用時の推定故障率が220FIT以下という良好な結果を得た.(2)光送受信モジュールの誘電体多層膜フィルタ挿入部について75℃90%RHで高温高湿保存試験を行い, 7, 900時間まで光学特性の劣化が無いことを確認した.(3)光送受信モジュールの光半導体搭載部について75℃90%RHで高温高湿バイアス試験を行い, 2, 700時間まで送受信特性の劣化が無いことを確認した. |
| 抄録(英) | Reliability of PLC-type optical splitters and transceiver modules for access networks is examined. A life test on optical splitters is performed in environments with various temperatures and humidities, and a 30-year hazard rate of less than 220 FIT is estimated for splitters operating at an ambient of 60℃40%RH. A temperature-humidity test and a temperature-humidity-bias test are performed on transceiver modules, and a filter-embedded multiplexer and optical semiconductor devices in the transceiver module are confirmed to be durable at 75℃90%RH. |
| キーワード(和) | PLC / 光スプリッタ / 光送受信モジュール / 信頼性 / 寿命試験 / 故障率 |
| キーワード(英) | PLC / Optical splitter / Optical transceiver module / Reliability / Life test / Hazard rate |
| 資料番号 | |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPM |
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| 開催期間 | 1998/3/13(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Component Parts and Materials (CPM) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 光アクセスシステム用PLC型光部品の信頼性 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Reliability of PLC-Type Optical Modules for Access Networks |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | PLC / PLC |
| キーワード(2)（和/英） | 光スプリッタ / Optical splitter |
| キーワード(3)（和/英） | 光送受信モジュール / Optical transceiver module |
| キーワード(4)（和/英） | 信頼性 / Reliability |
| キーワード(5)（和/英） | 寿命試験 / Life test |
| キーワード(6)（和/英） | 故障率 / Hazard rate |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 花房 廣明 / H Hanafusa |
| 第 1 著者 所属（和/英） | NTT光エレクトロニクス研究所 NTT Opto-electronics Laboratories |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 井上 靖之 / Y Inoue |
| 第 2 著者 所属（和/英） | NTT光エレクトロニクス研究所 NTT Opto-electronics Laboratories |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 塙 文明 / F Hanawa |
| 第 3 著者 所属（和/英） | NTT光エレクトロニクス研究所 NTT Opto-electronics Laboratories |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 高戸 範夫 / N Takato |
| 第 4 著者 所属（和/英） | NTT光エレクトロニクス研究所 NTT Opto-electronics Laboratories |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 山田 泰文 / Y Yamada |
| 第 5 著者 所属（和/英） | NTT光エレクトロニクス研究所 NTT Opto-electronics Laboratories |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 加藤 邦治 / K Katoh |
| 第 6 著者 所属（和/英） | NTT光エレクトロニクス研究所 NTT Opto-electronics Laboratories |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 東盛 裕一 / Y Tohmori |
| 第 7 著者 所属（和/英） | NTT光エレクトロニクス研究所 NTT Opto-electronics Laboratories |
| 第 8 著者 氏名（和/英） | 加藤 和利 / K Katoh |
| 第 8 著者 所属（和/英） | NTT光エレクトロニクス研究所 NTT Opto-electronics Laboratories |
| 発表年月日 | 1998/3/13 |
| 資料番号 | |
| 巻番号（vol） | vol.97 |
| 号番号（no） | 601 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |