講演名 1997/10/31
CuGaS_2薄膜の配向評価
大石 耕一郎, 小林 敏志, 太田 新一, 坪井 望, 金子 双男,
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抄録(和) 三元蒸着法で (100)Si, GaAs及びGaP基板上にCuGaS_2薄膜を同一条件で成長し、それぞれをRHEEDパターンから結晶学的に比較した。評価には、X線回折パターンで[001]配向 (c-軸配向) しか示さない試料を使用した。(100)Si基板上に成長した試料では、c-軸配向の他に2種類の<100>配向 (a-軸配向) と4種類の{112}双晶が存在していることを確認した。(100)GaAs及びGaP基板上に成長しだ試料では、a-軸配向が完全に抑えられ、Si基板上に成長した膜よりも結晶性が改善されることがわかったが、c-軸配向結晶の他に2種類の{112}双晶が存在していた。
抄録(英) CuGaS_2 films have been grown on (100)Si, GaAs and GaP wafers under the same conditions by the vacuum evaporation technique. In the X-ray diffraction analysis, all of samples used in this study showed that they were [001]-oriented (c-axis growth) films. However, the RHEED patterns of the films grown on (100)Si indicated that there were growth modes of the c-axis growth and two types of the <100> direction growth (the a-axes growths). In addition, there were four types of the {112} twins in them. The investigated orientations of the films grown on (100) GaAs or GaP were the c-axis growth and two types of the {112} twins, therefore, crystallographic qualities were improved as compared with that of the films grown on (100)Si.
キーワード(和) CuGaS_2 / カルコパイライト形化合物 / RHEED / X線回折 / エピタキシャル成長
キーワード(英) CuGaS_2 / chalcopyrite compounds / RHEED / X-ray diffraction / epitaxial growth
資料番号 CPM97-126
発行日

研究会情報
研究会 CPM
開催期間 1997/10/31(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Component Parts and Materials (CPM)
本文の言語 JPN
タイトル(和) CuGaS_2薄膜の配向評価
サブタイトル(和)
タイトル(英) Orientational characterization of CuGaS_2 thin films
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) CuGaS_2 / CuGaS_2
キーワード(2)(和/英) カルコパイライト形化合物 / chalcopyrite compounds
キーワード(3)(和/英) RHEED / RHEED
キーワード(4)(和/英) X線回折 / X-ray diffraction
キーワード(5)(和/英) エピタキシャル成長 / epitaxial growth
第 1 著者 氏名(和/英) 大石 耕一郎 / Koichiro OISHI
第 1 著者 所属(和/英) 長岡工業高等専門学校
Nagaoka National College of Technology
第 2 著者 氏名(和/英) 小林 敏志 / Satoshi KOBAYASHI
第 2 著者 所属(和/英) 新潟大学工学部
Faculty of Engineering, Niigata University
第 3 著者 氏名(和/英) 太田 新一 / Shin-ichi OHTA
第 3 著者 所属(和/英) 日本精機株式会社R&Dセンター
R&D Center, Nippon Seiki Co., Ltd.
第 4 著者 氏名(和/英) 坪井 望 / Nozomu TSUBOI
第 4 著者 所属(和/英) 新潟大学工学部
Faculty of Engineering, Niigata University
第 5 著者 氏名(和/英) 金子 双男 / Futao KANEKO
第 5 著者 所属(和/英) 新潟大学工学部
Faculty of Engineering, Niigata University
発表年月日 1997/10/31
資料番号 CPM97-126
巻番号(vol) vol.97
号番号(no) 355
ページ範囲 pp.-
ページ数 8
発行日