講演名 | 1997/10/31 CuGaS_2薄膜の配向評価 大石 耕一郎, 小林 敏志, 太田 新一, 坪井 望, 金子 双男, |
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抄録(和) | 三元蒸着法で (100)Si, GaAs及びGaP基板上にCuGaS_2薄膜を同一条件で成長し、それぞれをRHEEDパターンから結晶学的に比較した。評価には、X線回折パターンで[001]配向 (c-軸配向) しか示さない試料を使用した。(100)Si基板上に成長した試料では、c-軸配向の他に2種類の<100>配向 (a-軸配向) と4種類の{112}双晶が存在していることを確認した。(100)GaAs及びGaP基板上に成長しだ試料では、a-軸配向が完全に抑えられ、Si基板上に成長した膜よりも結晶性が改善されることがわかったが、c-軸配向結晶の他に2種類の{112}双晶が存在していた。 |
抄録(英) | CuGaS_2 films have been grown on (100)Si, GaAs and GaP wafers under the same conditions by the vacuum evaporation technique. In the X-ray diffraction analysis, all of samples used in this study showed that they were [001]-oriented (c-axis growth) films. However, the RHEED patterns of the films grown on (100)Si indicated that there were growth modes of the c-axis growth and two types of the <100> direction growth (the a-axes growths). In addition, there were four types of the {112} twins in them. The investigated orientations of the films grown on (100) GaAs or GaP were the c-axis growth and two types of the {112} twins, therefore, crystallographic qualities were improved as compared with that of the films grown on (100)Si. |
キーワード(和) | CuGaS_2 / カルコパイライト形化合物 / RHEED / X線回折 / エピタキシャル成長 |
キーワード(英) | CuGaS_2 / chalcopyrite compounds / RHEED / X-ray diffraction / epitaxial growth |
資料番号 | CPM97-126 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | CPM |
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開催期間 | 1997/10/31(から1日開催) |
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幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Component Parts and Materials (CPM) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | CuGaS_2薄膜の配向評価 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Orientational characterization of CuGaS_2 thin films |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | CuGaS_2 / CuGaS_2 |
キーワード(2)(和/英) | カルコパイライト形化合物 / chalcopyrite compounds |
キーワード(3)(和/英) | RHEED / RHEED |
キーワード(4)(和/英) | X線回折 / X-ray diffraction |
キーワード(5)(和/英) | エピタキシャル成長 / epitaxial growth |
第 1 著者 氏名(和/英) | 大石 耕一郎 / Koichiro OISHI |
第 1 著者 所属(和/英) | 長岡工業高等専門学校 Nagaoka National College of Technology |
第 2 著者 氏名(和/英) | 小林 敏志 / Satoshi KOBAYASHI |
第 2 著者 所属(和/英) | 新潟大学工学部 Faculty of Engineering, Niigata University |
第 3 著者 氏名(和/英) | 太田 新一 / Shin-ichi OHTA |
第 3 著者 所属(和/英) | 日本精機株式会社R&Dセンター R&D Center, Nippon Seiki Co., Ltd. |
第 4 著者 氏名(和/英) | 坪井 望 / Nozomu TSUBOI |
第 4 著者 所属(和/英) | 新潟大学工学部 Faculty of Engineering, Niigata University |
第 5 著者 氏名(和/英) | 金子 双男 / Futao KANEKO |
第 5 著者 所属(和/英) | 新潟大学工学部 Faculty of Engineering, Niigata University |
発表年月日 | 1997/10/31 |
資料番号 | CPM97-126 |
巻番号(vol) | vol.97 |
号番号(no) | 355 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 8 |
発行日 |