講演名 | 2000/11/15 低次積M系列のスクランブル化による性質のよい2元擬似乱数1170億ビットの一生成法 綾井 環, 野村 芳男, |
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抄録(和) | 本論文は, 低次積M系列を線形帰還型スクランブル回路に通して, 該M系列の長周期化を図り, 性質の良い2元擬似乱数列の生成に関するものである.該乱数列の評価は主にスクランブル化ビット列における符号"0", "1"の生起桁間隔の出現頻度を理論頻度(幾何級数分布)への適合性をχ~2帰無仮説検定で求めている.具体的には, 4次・5次積M系列の出力ビットをシフトレジスタ17段および23段構成のスクランブル回路に通して生成している.さらに, シフトレジスタ23段構成のスクランブル回路に通したビット列とF/F回路との排他論理和回路をとったビット列から, 性質の良い擬似乱数列1170億ビットを生成している.検討結果から, 本論文の手法で数十億ビットの2元真正乱数あるいは長周期で性質の優れた擬似乱数列が生成できることを述べている. |
抄録(英) | This paper is concerned with the generation of Pseudo-random binary sequences with good randomness from a Product M-sequences of low degree using a scrambler.which is consisted of linear feedback shift registers (17 or 23 stages).In this paper.we show an illustration of 117 billion binary sequences from Product M-sequence of 4 and 5 degree with a scrambler.To evaluate the randomness, we focus our attention on the geometric length distribution with respect to binary gaps among the produced sequence, and χ~2 null hypothesis test for the above distribution. |
キーワード(和) | 低次積M系列 / 擬似乱数 / スクランブル化 / χ~2検定 / 部分自己相関 |
キーワード(英) | Pseudo-random sequence / Product M-sequence / scrambler / χ~2 null hypothesis test |
資料番号 | IT 2000-36 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | IT |
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開催期間 | 2000/11/15(から1日開催) |
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講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Information Theory (IT) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 低次積M系列のスクランブル化による性質のよい2元擬似乱数1170億ビットの一生成法 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | An Approach to the Generation of Pseudo-Random Binary Digits 117 Billion by Scrambling Product M-sequences of Low Degree. |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | 低次積M系列 / Pseudo-random sequence |
キーワード(2)(和/英) | 擬似乱数 / Product M-sequence |
キーワード(3)(和/英) | スクランブル化 / scrambler |
キーワード(4)(和/英) | χ~2検定 / χ~2 null hypothesis test |
キーワード(5)(和/英) | 部分自己相関 |
第 1 著者 氏名(和/英) | 綾井 環 / Kan AYAI |
第 1 著者 所属(和/英) | 東京工業高等専門学校 Tokyo National College of Technology |
第 2 著者 氏名(和/英) | 野村 芳男 / Yoshio NOMURA |
第 2 著者 所属(和/英) | 東京工業高等専門学校 Tokyo National College of Technology |
発表年月日 | 2000/11/15 |
資料番号 | IT 2000-36 |
巻番号(vol) | vol.100 |
号番号(no) | 463 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 6 |
発行日 |