講演名 1993/7/24
確率擬距離を用いた認識系について
神沢 雄智, 遠藤 靖典, 堀内 和夫,
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抄録(和) パターン分類の手法,理論として最も広く用いられているのは統計的方法であり,ベイズ決定とも呼ばれる.これは,統計的決定理論に基づくもので,パターン集合の確率的性質を利用して,分類に伴う損失の期待値を最小にするようなパターン分類の方法を導くものである.本報告では,損失保証という概念をあらたに定義し,ベイズ決定の発展として,新たな決定法を試みる.その手法としては,確率距離より確率擬距離を定義した上で,損失保証関数という,損失保証の尺度の一つを導入することにより議論を進める.
抄録(英) Stastical method is widely used in the field of pattern recognition.The method is called Bayes theory,and is based on stastical decision theory.In this theory,the best recognition has the minimal expectation of costs depending on recognizing a given pattern by using stastical property of that pattern.In this report, a concept of guaranteed cost is presented and then a new method of recognition is shown.As a concrete method,we define propabilistic pseudo-metric derivating from propalbilistic metric,and then propose a recognition method by guaranteed cost function,which is one of propabilistic pseudo-metric and a measure of guaranteed cost.
キーワード(和) 確率擬距離 / Markoff過程 / 損失保証関数
キーワード(英) Probabilistic Pseudo-Metric / Markoff Process / Guaranteed Cost Function
資料番号 IT93-36
発行日

研究会情報
研究会 IT
開催期間 1993/7/24(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Information Theory (IT)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 確率擬距離を用いた認識系について
サブタイトル(和)
タイトル(英) Recognition System by Probabilistic Pseudo-Metric
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 確率擬距離 / Probabilistic Pseudo-Metric
キーワード(2)(和/英) Markoff過程 / Markoff Process
キーワード(3)(和/英) 損失保証関数 / Guaranteed Cost Function
第 1 著者 氏名(和/英) 神沢 雄智 / Yuchi Kanzawa
第 1 著者 所属(和/英) 早稲田大学理工学部電子通信学科
School of Science and Engineering,Waseda University
第 2 著者 氏名(和/英) 遠藤 靖典 / Yasunori Endo
第 2 著者 所属(和/英) 早稲田大学理工学部電子通信学科
School of Science and Engineering,Waseda University
第 3 著者 氏名(和/英) 堀内 和夫 / Kazuo Horiuchi
第 3 著者 所属(和/英) 早稲田大学理工学部電子通信学科
School of Science and Engineering,Waseda University
発表年月日 1993/7/24
資料番号 IT93-36
巻番号(vol) vol.93
号番号(no) 164
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日