講演名 | 1999/2/19 OFDMシステムの周波数オフセット存在下におけるビット誤り率の理論的導出法 青木 秀憲, 小西 宗生, 細川 泰輔, 高畑 文雄, |
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抄録(和) | OFDMシステムにおいて, 受信信号に含まれる周波数オフセットは信号の直交性を崩し, BER特性を大きく劣化させる. また, 検波方式として遅延検波を用いた場合, ガードインターバルが長くなるに従い, 周波数オフセットにより生じる2シンボル間の位相差が大きくなり, 特性を更に劣化させる. 本稿では, DQPSK方式を検討対象として, OFDMシステムにおける周波数オフセットの影響を理論的に導出するとともに, 特性評価に関してOFDMシステムとシングルキャリア方式とを比較する. |
抄録(英) | The bit error rate in OFDM system is sensitive to carrier frequency offset, because the frequency offset degrades the orthogonal relationship between sub-carriers. In the adoption of differential detection, the phase difference between 2 symbols caused by carrier frequency offset increases in proportion to the ratio of guard interval to symbol period. It results in the further degradation of BER. This paper proposes a theoretical derivation of bit error rate under carrier frequency offset and compares the BER performance of OFDM system with that of single carrier system. |
キーワード(和) | 0FDM / ビット誤り率 / 周波数オフセット / DQPSK / 遅延検波 / ガードインターバル |
キーワード(英) | OFDM / Bit Error Rate / Carrier Frequency Offset / DQPSK / Differential Detection / Guard InterVal |
資料番号 | |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | SAT |
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開催期間 | 1999/2/19(から1日開催) |
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講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Satellite Telecommunications (SAT) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | OFDMシステムの周波数オフセット存在下におけるビット誤り率の理論的導出法 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Theoretical derivation of bit error rate in OFDM system with carrier frequency offset |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | 0FDM / OFDM |
キーワード(2)(和/英) | ビット誤り率 / Bit Error Rate |
キーワード(3)(和/英) | 周波数オフセット / Carrier Frequency Offset |
キーワード(4)(和/英) | DQPSK / DQPSK |
キーワード(5)(和/英) | 遅延検波 / Differential Detection |
キーワード(6)(和/英) | ガードインターバル / Guard InterVal |
第 1 著者 氏名(和/英) | 青木 秀憲 / Hidenori AOKI |
第 1 著者 所属(和/英) | 早稲田大学大学院理工学研究科 Graduate School of Science and Engineering,Waseda University |
第 2 著者 氏名(和/英) | 小西 宗生 / Muneo KONISHI |
第 2 著者 所属(和/英) | 早稲田大学大学院理工学研究科 Graduate School of Science and Engineering,Waseda University |
第 3 著者 氏名(和/英) | 細川 泰輔 / Taisuke HOSOKAWA |
第 3 著者 所属(和/英) | 早稲田大学大学院理工学研究科 Graduate School of Science and Engineering,Waseda University |
第 4 著者 氏名(和/英) | 高畑 文雄 / Fumio TAKAHATA |
第 4 著者 所属(和/英) | 早稲田大学大学院理工学研究科 Graduate School of Science and Engineering,Waseda University |
発表年月日 | 1999/2/19 |
資料番号 | |
巻番号(vol) | vol.98 |
号番号(no) | 615 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 6 |
発行日 |