講演名 1996/7/22
空洞共振器を用いた非破壊誘電率測定に関する検討
阿部 琢美, 橋本 修, 高橋 毅, 三浦 太郎,
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抄録(和) 本研究においては簡便な誘電率測定法として用いられる共振器法について、測定用の試料を加工する事なく挿入し、共振周波数から誘電率を推定する方法について提案を行っている。特にここでは、実在する矩形空洞共振器にスリットを設け薄型誘電体基板を挿入し実験的に共振周波数を求めるとともに、これらを数値的にモデル化しFDTD法を用いた数値解析により内部の電磁界の時間的変化から共振周波数を計算し、両者を比較する事によって本研究で用いている手法の妥当性を検討している。 解析結果によれぱ、計算から得られた共振器内部電磁界の共振周波数は、実験的に求められた測定値と僅かの誤差範囲内で一致し、解析対象に対する本手法の有効性を確認出来た。本解析手法は今後、様々な試料形状に対して応用が考えられ、試料を加工せずに誘電率測定を可能にする方法として成果が期待される。
抄録(英) We discuss a new method to measure a permittivity of sample material with the rectangular cavity resonator. A merit of this method is that it is unnesessary to cut the material so as to be inserted fit for the cavity size, and therfore experimental error related to the material dimension is avoidable. Theoretical calculation of the cavity resonant frequency, obtained by the FDTD method, is compared to measured one, for several cases of material width and the permittivity. Both freqiencies are in a reasonable agreement each other within an error of a few percents. The present result suggests that this method is very convetional and effective for the permittivity measurement and it also has a possibility for further application of the permittivity estimation which does not require any processing of the material.
キーワード(和) 空洞共振器 / 非破壊測定法 / 誘電率測定 / FDTD法
キーワード(英) Cvity resonator / Unproceesed measurement / Permittivity measurement / FDTD
資料番号 SAT96-48,MW96-59
発行日

研究会情報
研究会 SAT
開催期間 1996/7/22(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Satellite Telecommunications (SAT)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 空洞共振器を用いた非破壊誘電率測定に関する検討
サブタイトル(和)
タイトル(英) On the permittivity measurement of unprocessed dielectric material with rectangular cavity resonator
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 空洞共振器 / Cvity resonator
キーワード(2)(和/英) 非破壊測定法 / Unproceesed measurement
キーワード(3)(和/英) 誘電率測定 / Permittivity measurement
キーワード(4)(和/英) FDTD法 / FDTD
第 1 著者 氏名(和/英) 阿部 琢美 / Takumi ABE
第 1 著者 所属(和/英) 青山学院大学理工学部電気電子工学科
College of Science and Engineering, Aoyama Gakuin University
第 2 著者 氏名(和/英) 橋本 修 / Osamu HASHIMOTO
第 2 著者 所属(和/英) 青山学院大学理工学部電気電子工学科
College of Science and Engineering, Aoyama Gakuin University
第 3 著者 氏名(和/英) 高橋 毅 / Takeshi Takahashi
第 3 著者 所属(和/英) TDK株式会社基礎材料研究所
Materials Research Center, TDK Corporation, Narita, Chiba
第 4 著者 氏名(和/英) 三浦 太郎 / Taro Miura
第 4 著者 所属(和/英) TDK株式会社基礎材料研究所
Materials Research Center, TDK Corporation, Narita, Chiba
発表年月日 1996/7/22
資料番号 SAT96-48,MW96-59
巻番号(vol) vol.96
号番号(no) 168
ページ範囲 pp.-
ページ数 7
発行日