| 講演名 | 2001/8/28 磁気光学プローブによるテストLSIパッケージ周辺ピン上の1D磁界分布測定 岩波 瑞樹, 山崎 悦史, 中野 健, 須藤 俊夫, 芳賀 知, 星野 茂樹, 若菜 伸一, 岸 眞人, 土屋 昌弘, |
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| 抄録(和) | プリント基板における不要電磁放射源、および放射メカニズムを調べるため、外部から動作モードが制御可能なLSIを実装したプリント基板を試作し、磁気光学プローブを用いてLSIパッケージ周辺ピン上の一次元(1D)磁界分布測定を行った。用いた磁気光学プローブは、光ファイバの先端に磁気光学結晶を接着させた構造のもので、100μm程度の空間分解能を有する。測定の結果、幅200μmを有し、500μmの間隔で配列されているパッケージ周辺の各ピンから発生する磁界を識別できることが判明した。また、4種類のLSI動作モードを選び、各モードについてクロック信号の基本周波数の10倍に対応する周波数における1D磁界分布測定を行った結果、各モード間でのピーク強度の相対比較結果と3m法により測定した放射電界強度の相対比較結果に相関関係が認められた。 |
| 抄録(英) | To investigate the radiation source and the radiation mechanism in a printed circuit board(PCB), we measured the one dimensional(1D)magnetic near field distribution on the package pins of a controllable LSI by using the magneto-optic probe. The magneto-optic probe has a structure that consists of an optical fiber and a magneto-optic crystal glued at a fiber edge. The spatial resolution of our probe is about 100μm. The width and the interval of the LSI package pins are 200μm and 500μm, respectively. From the measured results, it was found that our probe can resolve the magnetic field generateod from each LSI pin. We compared the radiated electric field strength from the PCB by means of 3 m method with the magnetic near field strength on the pins at the frequency which is ten times as many as the fundamental frequency of the clock signal for four kinds of LSI operation modes. It was found that the radiation strengths are correlated with the peak strengths in the magnetic field distributions among these LSI operation modes. |
| キーワード(和) | LSI / 動作モード / プリント基板 / 放射電界強度 / 磁気光学プローブ / 1D磁界分布測定 |
| キーワード(英) | LSI / Operation Mode / Printed Circuit Board / Radiated Electric Field Strength / Magneto-Optic Probe / 1D Magnetic Near Field Distribution Measurement |
| 資料番号 | EMCJ2001-51 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
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| 開催期間 | 2001/8/28(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromagnetic Compatibility (EMCJ) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 磁気光学プローブによるテストLSIパッケージ周辺ピン上の1D磁界分布測定 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | 1D Magnetic Near Field Distribution Measurements on LSI Package Pins by Using Magneto-Optic Probe |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | LSI / LSI |
| キーワード(2)（和/英） | 動作モード / Operation Mode |
| キーワード(3)（和/英） | プリント基板 / Printed Circuit Board |
| キーワード(4)（和/英） | 放射電界強度 / Radiated Electric Field Strength |
| キーワード(5)（和/英） | 磁気光学プローブ / Magneto-Optic Probe |
| キーワード(6)（和/英） | 1D磁界分布測定 / 1D Magnetic Near Field Distribution Measurement |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 岩波 瑞樹 / Mizuki Iwanami |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 技術研究組合超先端電子技術開発機構(ASET) Association of Super-Advanced Electronics Technologies(ASET) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 山崎 悦史 / Etsushi Yamazaki |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東京大学電子工学科 Department of Electronic Engineering, the University of Tokyo |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 中野 健 / Ken Nakano |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 技術研究組合超先端電子技術開発機構(ASET) Association of Super-Advanced Electronics Technologies(ASET) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 須藤 俊夫 / Toshio Sudo |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 技術研究組合超先端電子技術開発機構(ASET) Association of Super-Advanced Electronics Technologies(ASET) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 芳賀 知 / Satoru Haga |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 技術研究組合超先端電子技術開発機構(ASET) Association of Super-Advanced Electronics Technologies(ASET) |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 星野 茂樹 / Shigeki Hoshino |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 技術研究組合超先端電子技術開発機構(ASET) Association of Super-Advanced Electronics Technologies(ASET) |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 若菜 伸一 / Shinichi Wakana |
| 第 7 著者 所属（和/英） | 東京大学電子工学科 Department of Electronic Engineering, the University of Tokyo |
| 第 8 著者 氏名（和/英） | 岸 眞人 / Masato Kishi |
| 第 8 著者 所属（和/英） | 東京大学電子工学科 Department of Electronic Engineering, the University of Tokyo |
| 第 9 著者 氏名（和/英） | 土屋 昌弘 / Masahiro Tsuchiya |
| 第 9 著者 所属（和/英） | 東京大学電子工学科 Department of Electronic Engineering, the University of Tokyo |
| 発表年月日 | 2001/8/28 |
| 資料番号 | EMCJ2001-51 |
| 巻番号（vol） | vol.101 |
| 号番号（no） | 274 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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