| 講演名 | 2001/3/15 電界・磁界シールド効果測定器(KEC法)の集中定数等価回路 松原 智樹, 西方 敦博, 山中 幸雄, |
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| 抄録(和) | 本報告では、電磁シールド材のシールド効果(SE)と材料の電気的特性との対応を明らかにするために、広く用いられているKEC法の測定器(磁界SE測定器および電界SE測定器)の集中定数等価回路を求めた。まず、磁界SE測定器について、送信・受信ループアンテナの給電点間を給電ギャップから見込んだときのインピーダンス行列を3次元FDTD法の計算から求め、シールド材の面抵抗値R_sが第3の巻線に負荷として入る変成器モデルを提案した。同モデルによって計算されるSEが同実測値と3dB以内で一致することから、この等価回路の妥当性を示した。次に電界SE測定器について測定器の中心導体間、中心導体と外部導体および測定試料との間の静電容量を実測値をもとに求め、等価回路を示した。同等価回路より計算される電界SEが実測値と良好に一致することを示した。その際、多数の小孔をもつ導電性布の試料については、同試料を貫通する電気力線の割合を示す材料パラメータを新たに加えることで、実測値が説明できることを示した。 |
| 抄録(英) | In this report, we propose the equivalent lumped element circuits for the KEC electric and magnetic SE(Shielding Effectiveness) test fixtures. The magnetic SE test fixture's equivalent circuit was constructed by introducing the Z-matrix of coupled transmitting and receiving antennas which was calulated by 3D-FDTD model. As a result, the magnetic test fixture could be replaced by a transformer model which has third coil whose load impedance is the sheet resistivity of the shielding maetrial. The calculated SE by this model agrees well with the measured result within 3dB. The KEC electric SE test fixture wasmodeled by an equlvalent lumped element circuit. Through this modeling, another shielding material parameter was found to be necessary for the characterization of shielding material with small apertures. |
| キーワード(和) | KECシールド効果測定法 / 電磁シールド / 集中定数等価回路 / 3次元FDTD法 |
| キーワード(英) | KEC Shelding Effectiveness Measuring Instrument / Electromagnetic Shielding / Equivalent Lumped Element Circuit / 3D-FDTD |
| 資料番号 | EMCJ2000-138 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
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| 開催期間 | 2001/3/15(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromagnetic Compatibility (EMCJ) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 電界・磁界シールド効果測定器(KEC法)の集中定数等価回路 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Equivalent Lumped Element Circuits for the KEC Electric and Magnetic Shielding Effectiveness Test Fixtures |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | KECシールド効果測定法 / KEC Shelding Effectiveness Measuring Instrument |
| キーワード(2)（和/英） | 電磁シールド / Electromagnetic Shielding |
| キーワード(3)（和/英） | 集中定数等価回路 / Equivalent Lumped Element Circuit |
| キーワード(4)（和/英） | 3次元FDTD法 / 3D-FDTD |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 松原 智樹 / Tomoki Matsubara |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東京工業大学大学院理工学研究科国際開発工学 Graduate school of Science and Engineering, Tokyo Institute of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 西方 敦博 / Atsuhiro Nishikata |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東京工業大学教育工学開発センター CRADLE, Tokyo Insutitute of Technology |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 山中 幸雄 / Yukio Yamanaka |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 総務省通信総合研究所 Communications Research Laboratory, Ministry of Public Management, Home Affairs, Posts and Telecommunications |
| 発表年月日 | 2001/3/15 |
| 資料番号 | EMCJ2000-138 |
| 巻番号（vol） | vol.100 |
| 号番号（no） | 715 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |