講演名 2000/10/12
HF帯用SITの1/f雑音測定
伊藤 桂一, 井上 浩,
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抄録(和) HF帯用SIT(Static Induction Transistor)の10[Hz]~10[MHz]の周波数範囲における雑音特性の測定を行い, 1/f雑音のバイアス依存性について検討した.その結果, 1/f雑音のドレイン電流およびゲートバイアス依存性が観測された.特に, SITのチャンネルが完全に空乏していない状態ではゲートバイアスの影響が強いことが推測される.チャンネルがとピンチオフした状態では, 1[Hz〕における1/f雑音の大きさAはドレイン電流IDに対してA^∝ID^0.10の関係がみられた.他の半導体と比較すると, 電流に対する依存度は小さいと考えられる.
抄録(英) In this report, the noise property is measured on HF band SIT(Static Induction Transistor)in the frequency range of 10 Hz to 10 MHz , and the bias dependency on the 1/f noise is examined. As a result, both drain current and gate bias dependencies are observed. In particular, when the channel of SIT is not depleted completely, it is supposed that the 1/f noise is strongly affected by the gate bias. When the chan-nel is pinched off, the magnitude of 1/f noise A at 1Hz is related to the drain current ID , Which A is pro-portional to ID^0.10. If is considered that the current dependency of the 1/f noise is weak, comparing to an-other kind of semiconconductor devices.
キーワード(和) SIT / 1/f雑音 / ドレイン電流依存性 / ゲートバイアス依存性
キーワード(英) SIT / 1/f Noise / Drain current dependency / Gate bias dependency
資料番号 EMCJ2000-76,MW2000-120
発行日

研究会情報
研究会 EMCJ
開催期間 2000/10/12(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electromagnetic Compatibility (EMCJ)
本文の言語 JPN
タイトル(和) HF帯用SITの1/f雑音測定
サブタイトル(和)
タイトル(英) 1/f Noise Measurement of HF Band SIT
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) SIT / SIT
キーワード(2)(和/英) 1/f雑音 / 1/f Noise
キーワード(3)(和/英) ドレイン電流依存性 / Drain current dependency
キーワード(4)(和/英) ゲートバイアス依存性 / Gate bias dependency
第 1 著者 氏名(和/英) 伊藤 桂一 / Keiichi ITOH
第 1 著者 所属(和/英) 秋田工業高等専門学校電気工学科
Department of Electrical Engineering, Akita National College of Technology
第 2 著者 氏名(和/英) 井上 浩 / Hiroshi INOUE
第 2 著者 所属(和/英) 秋田大学工学資源学部電気電子工学科
Department of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering and Resource Science, Akita University
発表年月日 2000/10/12
資料番号 EMCJ2000-76,MW2000-120
巻番号(vol) vol.100
号番号(no) 363
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日