| 講演名 | 2000/6/15 EMCJ2000-26 短絡型TEMセルを用いた電界・磁界分離による感受性測定の提案 村野 公俊, 菅原 佳菜, 上 芳夫, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ | PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | イミュニティ特性を測定するために用いられるTEMセル法では、一般に整合負荷の条件下で使用されている。このTEMの終端負荷を短絡回路とすると、TEMセル内部には定在波が発生する。電圧定在波の腹の位置近傍では電界が優勢であり、節の位置近傍では磁界が優勢である。このような位置に回路部品などの素子を挿入してその受信レベルを調べることは、放射電界・磁界による素子の感受性特性を調べることである。また、これを使うと電磁界と素子との結合特性、結合メカニズムを理論的に解明するうえで有効な手段となる。 |
| 抄録(英) | A TEM cell for immunity test is usually used in a state of matched circuit load, where electromagnetic fields play as same as a plane wave. When a TEM cell is terminated with a short circuit, tere is a standing wave in it. This fact means that the electric or the magnetic fields are dominantely generated at some specific positions. On the consideration, a susceptibility test method for small electronics parts is proposed to investigate the coupling mechanism caused separately by the fields. Characteristics of a trial test set is studied experimentally, and as examples, the susceptibility characteristics for a small microstrip line and a coil are studied. |
| キーワード(和) | 感受性測定 / 短絡型TEMセル / 電界結合 / 磁界結合 |
| キーワード(英) | Susceptibility test / short-circuited TEM cell / electric-field coupling / magnetic-field coupling |
| 資料番号 | EMCJ2000-26 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
|---|---|
| 開催期間 | 2000/6/15(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromagnetic Compatibility (EMCJ) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | EMCJ2000-26 短絡型TEMセルを用いた電界・磁界分離による感受性測定の提案 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Proposal of Susceptibility-Mesurement Method Using Electric and Magnetic Fields Generated in a TEM Cell with Short Circuit. |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 感受性測定 / Susceptibility test |
| キーワード(2)（和/英） | 短絡型TEMセル / short-circuited TEM cell |
| キーワード(3)（和/英） | 電界結合 / electric-field coupling |
| キーワード(4)（和/英） | 磁界結合 / magnetic-field coupling |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 村野 公俊 / Kimitoshi Murano |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 電気通信大学情報通信工学科 The University of Electro-Communications |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 菅原 佳菜 / Kana Sugawara |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 電気通信大学情報通信工学科 The University of Electro-Communications |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 上 芳夫 / Yoshio Kami |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 電気通信大学情報通信工学科 The University of Electro-Communications |
| 発表年月日 | 2000/6/15 |
| 資料番号 | EMCJ2000-26 |
| 巻番号（vol） | vol.100 |
| 号番号（no） | 117 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |