| 講演名 | 2000/6/15 EMCJ2000-23 FDTDアプローチによるプリント回路基板からの遠方電界強度の予測 笹部 孝司, 王 建青, 藤原 修, |
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| 抄録(和) | 本文では, プリント回路基板上の電気長に比して必ずしも短くない平衡2線路パタンから放射される遠方電界強度を, パタン上のコモンモード電流に対するベクトルポテンシャルから誘導した計算式にFDTD(Finite-Difference Time-Domain)法で求めたコモンモード電流を代入することで予測する手法を提案した.この提案手法の妥当性を確認するために, 試作基板上に作成した平行2線路を正弦波駆動した場合の遠方電界強度の周波数スペクトルに対する測定値と予測値とを比較した.その結果, 30MHzから1GHzの広い周波数範囲において予測値と実測値とが概ね一致することがわかり, 提案手法の妥当性が確認できた. |
| 抄録(英) | A new prediction method for the radiated far-field emission from PCBs (Printed Circuit Boards) with parallel traces was proposed. An equation for calculating the electric far-field due to common-mode (CM) currents on the traces being not always electrically short, was theoretically derived. The FDTD (Finite-Difference Time-Domain) method was used to compute the CM currents for the electric far-filed prediction. A comparison of the predicted far-field strength with the results actually measured for two types of prefablicated sample PCBs having parallel traces was carried out in order to validate the above prediction approach. As a result, good agreement was obtained between the prediction and the measurement in the frequency range from 30 MHz to 1 GHz. |
| キーワード(和) | プリント回路基板 / 放射遠方電界 / コモンモード電流 / FDTD法 / 予測 |
| キーワード(英) | Printed circuit boards / far-fieldemission / common-mode current / FDTD method / prediction |
| 資料番号 | EMCJ2000-23 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
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| 開催期間 | 2000/6/15(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromagnetic Compatibility (EMCJ) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | EMCJ2000-23 FDTDアプローチによるプリント回路基板からの遠方電界強度の予測 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Prediction of Electric Far-FieldStrength Radiated from Printed Circuit Boards by A FDTD Approach |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | プリント回路基板 / Printed circuit boards |
| キーワード(2)（和/英） | 放射遠方電界 / far-fieldemission |
| キーワード(3)（和/英） | コモンモード電流 / common-mode current |
| キーワード(4)（和/英） | FDTD法 / FDTD method |
| キーワード(5)（和/英） | 予測 / prediction |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 笹部 孝司 / Kohji SASABE |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 松下電工株式会社品質R&Dセンター Corporate Quality R&D Center, Matsushita Electric Works, Ltd |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 王 建青 / Jianqing WANG |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 名古屋工業大学電気情報工学科 Faculty of Engineering, Nagoya Institute of Technology |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 藤原 修 / Osamu FUJIWARA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 名古屋工業大学電気情報工学科 Faculty of Engineering, Nagoya Institute of Technology |
| 発表年月日 | 2000/6/15 |
| 資料番号 | EMCJ2000-23 |
| 巻番号（vol） | vol.100 |
| 号番号（no） | 117 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | |