講演名 1994/6/3
微小領域におけるノイズセンシング技術の研究
黒内 利明, 荷見 昭夫, 大根田 明由,
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抄録(和) 電子機器の普及とともにEMC仕様を高いレベルでクリアする必要がある。EMC対策は、発生側の原因を除去することが最も確実な手法である。本報告では、基板から幅射する電磁波を微小領域でとらえて、分布状態と発生源を特定することができるシステムを開発したので紹介する。このシステムの特徴は、プローブを自在に駆動するため、高い分解能を得ることができる。また、基板の実映像をスーパーインポーズするため、発生部位の特定が容易である。この装置を用いて、実際に試作した基板の対策例について述べる。電磁波を可視化することによる、従来のノイズ対策作業を具体化し改善することが期待できる。
抄録(英) It is necessary to clear the EMC specification with the popularization of an electronic equipment at a high level.In the noise measures,it is the most certain techniques to remove the cause of the generation side. In this report,the device which caught the electro-magnetic wave radiated from PCB in a minute area was developed.The characteristic of this system can specify the noise distribution and the source.It is a composition by which probe is freely driven. Therefore,a high decomposition ability is obtained.The example of PCB′s measures made for trial purposes is described.Materializing the measures work becomes possible by making an electro-magnetic wave visible.
キーワード(和) 微小領域 / ノイズセンシング / ノイズ分布 / 発生源
キーワード(英) Minute area / Noise measurement / Noise distribution and the source
資料番号 EMCJ94-12
発行日

研究会情報
研究会 EMCJ
開催期間 1994/6/3(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electromagnetic Compatibility (EMCJ)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 微小領域におけるノイズセンシング技術の研究
サブタイトル(和)
タイトル(英) Research of Noise measurement technology in munute area
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 微小領域 / Minute area
キーワード(2)(和/英) ノイズセンシング / Noise measurement
キーワード(3)(和/英) ノイズ分布 / Noise distribution and the source
キーワード(4)(和/英) 発生源
第 1 著者 氏名(和/英) 黒内 利明 / Toshiaki Kurouchi
第 1 著者 所属(和/英) 栃木県工業技術センター
Tochigi-Prof Industrial Technology Center
第 2 著者 氏名(和/英) 荷見 昭夫 / Akio Hasumi
第 2 著者 所属(和/英) 栃木県工業技術センター
Tochigi-Prof Industrial Technology Center
第 3 著者 氏名(和/英) 大根田 明由 / Akiyoshi Ohneta
第 3 著者 所属(和/英) 栃木県工業技術センター
Tochigi-Prof Industrial Technology Center
発表年月日 1994/6/3
資料番号 EMCJ94-12
巻番号(vol) vol.94
号番号(no) 82
ページ範囲 pp.-
ページ数 5
発行日