| 講演名 | 1999/3/16 EMIシミュレーション用LSI電源モデルの検討 入野 仁, 和深 裕, 遠矢 弘和, |
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| 抄録(和) | プリント基板電源層を流れる電流はLSI内部の全回路を流れる高周波電流をすべて含むためEMIの主要因となりうる。そのため適切なLSI電源系のモデルを用いてプリント基板の設計段階で高周波電流を見積もることが必要である。本稿では、抵抗値が時間によって変化する素子でLSI電源系をモデル化し、プリント基板電源配線を流れる電流の波形およびスペクトラムをシミュレーションした。また、シミュレーションにより求めた電流スペクトラムを実測値と比較した結果、1MHz～1GHzの帯域で誤差は最大10dBであった。 |
| 抄録(英) | A current in a printed circuit board (PCB) power supply line contains radio frequency (RF) currents corresponding to all internal LSI circuit currents. Then, it is necessary for estimating the power supply current to use an appropriate model for LSI power supply terminals. In this report, a new LSI model for the power power supply terminal is proposed, which is a component whose resistance varies with time. Current in the power supply line of a PCB was well simulated by using the model. The maximum deviation between simulated values of current spectra and the measured in experiments was found to be within 10dB in the range of 1MHz to 1GHz. |
| キーワード(和) | 高周波電流 / シミュレーション / LSI電源モデル |
| キーワード(英) | RF current / simulation / LSI model at power supply terminal |
| 資料番号 | EMCJ98-106 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
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| 開催期間 | 1999/3/16(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromagnetic Compatibility (EMCJ) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | EMIシミュレーション用LSI電源モデルの検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A New Behavioral Model of LSI at Power Supply Terminal for EMI Simulation |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 高周波電流 / RF current |
| キーワード(2)（和/英） | シミュレーション / simulation |
| キーワード(3)（和/英） | LSI電源モデル / LSI model at power supply terminal |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 入野 仁 / Hitoshi IRINO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本電気(株) デバイス評価技術研究所 Device Analysis Technology Laboratories, NEC Corporation |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 和深 裕 / Hiroshi WABUKA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本電気(株) デバイス評価技術研究所 Device Analysis Technology Laboratories, NEC Corporation |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 遠矢 弘和 / Hirokazu TOHYA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日本電気(株) デバイス評価技術研究所 Device Analysis Technology Laboratories, NEC Corporation |
| 発表年月日 | 1999/3/16 |
| 資料番号 | EMCJ98-106 |
| 巻番号（vol） | vol.98 |
| 号番号（no） | 661 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |