| 講演名 | 1995/7/20 外部素子を持つ小型空胴による複素誘電率の測定について 金 基采, 内田 一徳, 徳丸 仁, |
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| 抄録(和) | 誘電率測定の分解能を調節するための外部素子を装荷した電気的小型の空胴を用いて、空胴の給電点インピーダンスより被測定誘電体試料の複素誘電率を測定する方法について論じている。給電点インピーダンスの計算にはモーメント法を用い、給電点インピーダンスの測定値より複素誘電率を求めるのにはMuller法を利用した。 |
| 抄録(英) | This paper presents the method for measuring complex dielectric constants of dielectric materials from measured driving point impedances. The proposed method is to use a input impedance of a electrically small cavity and a external element used for a sensitivity control. The method of moments with Galerkin's procedure is used to determine the input impedance of the cavity. In this paper, Muller method is used to find the complex dielectric constant from the measured driving point impedance as the inverse algorithm. |
| キーワード(和) | 複素誘電率測定 / 小型空胴 / 外部素子 / 給電点インピーダンス |
| キーワード(英) | Dielectric constant / Small cavity / External reactance / Driving point impedance |
| 資料番号 | |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
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| 開催期間 | 1995/7/20(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromagnetic Compatibility (EMCJ) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 外部素子を持つ小型空胴による複素誘電率の測定について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | On the Method for Measuring Complex Dielectric Constant using Small Cavity with External Element |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 複素誘電率測定 / Dielectric constant |
| キーワード(2)（和/英） | 小型空胴 / Small cavity |
| キーワード(3)（和/英） | 外部素子 / External reactance |
| キーワード(4)（和/英） | 給電点インピーダンス / Driving point impedance |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 金 基采 / Ki-Chai Kim |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 福岡工業大学情報工学科 Fukuoka Institute of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 内田 一徳 / Kazunori Uchida |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 福岡工業大学情報工学科 Fukuoka Institute of Technology |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 徳丸 仁 / Shinobu Tokumaru |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 慶応義塾大学電気工学科 Keio University |
| 発表年月日 | 1995/7/20 |
| 資料番号 | |
| 巻番号（vol） | vol.95 |
| 号番号（no） | 154 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 7 |
| 発行日 | |