講演名 1997/6/19
TEMセルによる電界プローブの校正
後藤 悦孝, 針谷 栄蔵, 篠崎 厚志, 佐々木 玲一,
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抄録(和) 電磁界放射イミュニティ試験において, 試験電界強度を校正するために電界プロープが使用されるが, この電界プローブ本体も定期的に校正する必要がある. 本報告では,0.1~1000MHzの周波数範囲で電界プローブを校正するためのTEMセル装置の試作開発を行ったのでその概要を報告する. 試作開発したTEMセルの特性は, 周波数帯域により平行平板または電波暗室で発生させた標準電界のもとで電界プローブの値付けし, これによりTEMセルの電界値を確認した. さらに, 同一電界プローブをG-TEMセルでも校正実験を行うことにより比較した. その結果, 試作開発したTEMセルにより, ±0.5~1.5dB 程度の偏差で値付けができることが確認された.
抄録(英) It is required to calibrate field probes periodically which is, in electromagnetic (EM) field immunity tests, used to measure its field intesity. This paper describes an outline of the tests concerning with a TEM cell which has been newly developed to calibrate these field probes at the range of 0.1-1000MHz. The characteristics of the TEM ceLL was confirmed by a field probe which was calibrated with the standard EM field generated in the parallel plate and the anechoic chamber. The result indecates that the deviation of the TEM cell field is in ±0.5~1.5dB.
キーワード(和) イミュニティ / 電界プローブ / TEMセル / 校正 / 電波暗室
キーワード(英) Immunity / Field Probe / TEM cell / Calibration / Anechoic Chamber
資料番号 EMCJ97-21
発行日

研究会情報
研究会 EMCJ
開催期間 1997/6/19(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electromagnetic Compatibility (EMCJ)
本文の言語 JPN
タイトル(和) TEMセルによる電界プローブの校正
サブタイトル(和)
タイトル(英) Field Probe Calibration by using TEM cell
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) イミュニティ / Immunity
キーワード(2)(和/英) 電界プローブ / Field Probe
キーワード(3)(和/英) TEMセル / TEM cell
キーワード(4)(和/英) 校正 / Calibration
キーワード(5)(和/英) 電波暗室 / Anechoic Chamber
第 1 著者 氏名(和/英) 後藤 悦孝 / Yoshitaka Goto
第 1 著者 所属(和/英) 協立電子工業(株)
Kyoritsu Corporation
第 2 著者 氏名(和/英) 針谷 栄蔵 / Eizou Hariya
第 2 著者 所属(和/英) (社)関西電子工業振興センター
Kansai Electronic Industry Development Center
第 3 著者 氏名(和/英) 篠崎 厚志 / Atsushi Sinozaki
第 3 著者 所属(和/英) セイコーエプソン(株)
Seiko Epson Corporation
第 4 著者 氏名(和/英) 佐々木 玲一 / Reiichi Sasaki
第 4 著者 所属(和/英) 近畿大学
Kinki University
発表年月日 1997/6/19
資料番号 EMCJ97-21
巻番号(vol) vol.97
号番号(no) 105
ページ範囲 pp.-
ページ数 7
発行日