講演名 1997/5/14
ディジタル回路の誤動作予測を目的とした過渡応答回路モデルの開発
香川 直己, 和田 修己, 古賀 隆治,
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抄録(和) 本論文では,CMOS論理ICで構成されたディジタル回路の誤動作の予測を目的とした,線形等価回路モデルを提案する.提案するモデルは,単段で構成されたIC(74HCU04)を対象に,その電気的特性から過渡状態下のICの回路状態を表現するものであり,回路シミュレータ(SPICE)を用いて,その線形等価回路の共振特性を解析し,雑音周波数特性の実測結果と比較した.その結果,今回提案した線形等価回路の共振特性のピークの一つは実測結果と一致した.
抄録(英) This report proposes a liner network model for prediction of malfunction of digital circuits. This model aims to simulate a CMOS digital IC under transient state. In this report, developed model simulates the simplest CMOS-IC, 74HCU04, which consists of a CMOS gate. Resonance of the model was calculated with SPICE and the results were compared with the measured frequency characteristics of wide band noise voltage overriding digital signals. As a result, the model simulated a peak frequency where the noise voltage has maximal value.
キーワード(和) ディジタル回路 / 誤動作 / 等価回路 / 共振特性 / CMOS論理IC
キーワード(英) Digital circuit / malfunction / equivalent circuit / resonance characteristics / CMOS logic IC
資料番号 EMCJ97-13
発行日

研究会情報
研究会 EMCJ
開催期間 1997/5/14(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electromagnetic Compatibility (EMCJ)
本文の言語 JPN
タイトル(和) ディジタル回路の誤動作予測を目的とした過渡応答回路モデルの開発
サブタイトル(和)
タイトル(英) Development of a linear network model for prediction of malfunction of digital circuits
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) ディジタル回路 / Digital circuit
キーワード(2)(和/英) 誤動作 / malfunction
キーワード(3)(和/英) 等価回路 / equivalent circuit
キーワード(4)(和/英) 共振特性 / resonance characteristics
キーワード(5)(和/英) CMOS論理IC / CMOS logic IC
第 1 著者 氏名(和/英) 香川 直己 / Naoki KAGAWA
第 1 著者 所属(和/英) 福山大学工学部
Faculty of Engineering, Fukuyama University
第 2 著者 氏名(和/英) 和田 修己 / Osami WADA
第 2 著者 所属(和/英) 岡山大学工学部
Faculty of Engineering, Okayama University
第 3 著者 氏名(和/英) 古賀 隆治 / Ryuji KOGA
第 3 著者 所属(和/英) 岡山大学工学部
Faculty of Engineering, Okayama University
発表年月日 1997/5/14
資料番号 EMCJ97-13
巻番号(vol) vol.97
号番号(no) 37
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日