| 講演名 | 2001/9/7 デバイスの耐放射線試験の結果事例 : COTS部品の適用 梶沼 雅仁, 藤本 直伸, 溝口 彰, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ | PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | MIL部品の廃止に伴い、COTS部品の航空宇宙機器への適用が急がれている。民生部品、特に半導体デバイスは技術の進歩が目覚しい。このような部品を宇宙・防衛機器に適用することで機器の高性能化しつつ小型化できるため、様々な分野で盛んに議論されている。しかしこのようなCOTS部品の高信頼性機器適用に際して、その信頼性の確認はユーザに一任される。なかでも宇宙機器への適用に関して最も重要である耐放射線特性の評価データは部品メーカでは皆無と言ってよく、国内ではその評価はユーザ側で実施せねばならない。そこで本論文ではMPU、FPGAといった二つの高機能LSIの耐放射線特性を取得したので報告する。 |
| 抄録(英) | Parts user accelerates COTS parts use, because currently they cannot buy a MIL specification parts, In Commercial grade parts, the progress of semiconductor devises technology is very fast. Therefor various field engineers discuss a use of COTS parts for defense and aerospace products, because this use will make products small and high performance. However, as using COTS parts for high reliability products, user has to get reliability data of COTS parts by oneself. Parts vender does not have a data of radioactive rays tolerance. Therefor, devise user must get this data by oneself. We report acquired characteristics of radioactive rays tolerance of two multi function devise, FPGA and 32bit MPU. |
| キーワード(和) | COTS / 耐放射線試験 / シングルイベント / トータルドーズ / 民生部品 |
| キーワード(英) | COTS / Single Event Effect / Total Dose / Commercial Grade Parts |
| 資料番号 | R2001-16 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
|---|---|
| 開催期間 | 2001/9/7(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Reliability(R) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | デバイスの耐放射線試験の結果事例 : COTS部品の適用 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A result example of radioactive rays tolerance for Semiconductor Device : Use of COTS Parts |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | COTS / COTS |
| キーワード(2)（和/英） | 耐放射線試験 / Single Event Effect |
| キーワード(3)（和/英） | シングルイベント / Total Dose |
| キーワード(4)（和/英） | トータルドーズ / Commercial Grade Parts |
| キーワード(5)（和/英） | 民生部品 |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 梶沼 雅仁 / Masahito KAJINUMA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 三菱電機 株式会社 鎌倉製作所 Quality Assurance Section MITUBISHI ELECTRIC Cooperation Kamakura Works |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 藤本 直伸 / Naonobu FUJIMOTO |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 三菱電機 株式会社 鎌倉製作所 Quality Assurance Section MITUBISHI ELECTRIC Cooperation Kamakura Works |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 溝口 彰 / Akira MIZOGUCHI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 三菱電機 株式会社 鎌倉製作所 Quality Assurance Section MITUBISHI ELECTRIC Cooperation Kamakura Works |
| 発表年月日 | 2001/9/7 |
| 資料番号 | R2001-16 |
| 巻番号（vol） | vol.101 |
| 号番号（no） | 305 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 3 |
| 発行日 | |