講演名 2001/5/18
テスト空間依存型ソフトウェア信頼度成長モデルの一般化とその適合性評価と関する考察
藤原 隆次, 山田 茂,
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抄録(和) 多様化・複雑化するソフトウェアシステムの高信頼化を図るための管理技法として, ソフトウェア信頼度成長モデルによる様々な定量的信頼性評価技術が研究されている. そこで, 実際のテスト工程におけるソフトウェア発見事象を, どのモデルを用いて記述し, ソフトウェアの信頼性評価を行うかは, 開発管理者にとって重要な問題である. 本論文では, 実際のフォールトデータに対する適合性が優れたモデルであるテスト習熟性を考慮したソフトウェア信頼度成長を取り上げ, このモデルにおいてフォールト発見可能領域の拡大率とテスト空間の拡大率が異なるものと仮定してモデルを再構築する. これを, 従来よりも適合性および妥当性を高めたモデルとして, 一般化されたテスト空間依存型ソフトウェア信頼度成長モデルとして定義する. また, 本モデルを実測フォールトデータに適用した信頼性評価例を示し, 幾つかの適合性評価基準を導入して既存モデルとの適合性比較を行う.
抄録(英) The set of modules and functions in the software system, which is influenced by the executed test-cases, is called a testing-domain, and it spreads with the progress of testing. In this paper, we propose a testing-domaim dependent software reliability growth model considering the skill-factor of test-case designers where it is assumed that the fault-detection possibility growth rate and the testing-domain growth rate are not equivalent in the fault-detection process. This model based on a nonhomogeneous Poisson process is defined as a generalized testing-domain dependent software reliability growth model which improves the conventional model in terms of goodness-of-fit. Further, using several evaluation criteria, we discuss its goodness-of-fit for several actual data sets in comparison with the conventional model. Finally, numerical illustrations of software reliability assessment are shown.
キーワード(和) ソフトウェア信頼性評価 / 信頼度成長モデル / テスト習熟度 / テスト空間 / フォールト発見可能領域
キーワード(英) software reliability assessment / reliability growth model / testing-skill / testing-domain / fault-detection possibility
資料番号 R2001-8
発行日

研究会情報
研究会 R
開催期間 2001/5/18(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Reliability(R)
本文の言語 JPN
タイトル(和) テスト空間依存型ソフトウェア信頼度成長モデルの一般化とその適合性評価と関する考察
サブタイトル(和)
タイトル(英) A Generalized Software Reability Growth Modeling with Testing-Domain: Model and Application
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) ソフトウェア信頼性評価 / software reliability assessment
キーワード(2)(和/英) 信頼度成長モデル / reliability growth model
キーワード(3)(和/英) テスト習熟度 / testing-skill
キーワード(4)(和/英) テスト空間 / testing-domain
キーワード(5)(和/英) フォールト発見可能領域 / fault-detection possibility
第 1 著者 氏名(和/英) 藤原 隆次 / Takaji Fujiwara
第 1 著者 所属(和/英) 富士通周辺機(株)第二事業部第一開発部
Department of First Development, Division II, Fujitsu Peripherals Limited
第 2 著者 氏名(和/英) 山田 茂 / Shigeru Yamada
第 2 著者 所属(和/英) 鳥取大学工学部社会開発システム工学科
Department of Social Systems Engineering, Faculty of Engineering, Tottori University
発表年月日 2001/5/18
資料番号 R2001-8
巻番号(vol) vol.101
号番号(no) 88
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日