| 講演名 | 1995/12/15 ETS-VI搭載集積回路モニタ(ICM)計測結果(速報) 木本 雄吾, 松本 晴久, 五家 建夫, 福田 敏幸, |
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| 抄録(和) | 1994年8月28日打ち上げたETS-VI衛星に搭載された集積回路モニタ(ICM)による宇宙環境下でのCMOS集積回路特性変化の計測結果を報告する。搭載CMOS集積回路は4007素子で、合計6個で各2個ずつに0.1mm、1mm、10mmの3種類のアルミニウムのシールドを施している。また地上γ線照射試験結果と軌道上側定結果の比較を行った。 |
| 抄録(英) | This paper describes the degradation (radiation damage) of six 4007 type devices by total dose effects in the Integrated Circuit Monitor (ICM) on board the Engineering Test Satellite-VI (ETS-VI). The devices are covered with three different thicknesses of aluminum shielding. The on-orbit device performance of the 4007 devices is compared to ^<60>Co ground test data from the same lot devices. |
| キーワード(和) | ICM / トータルドーズ効果 / 4007素子 / ETS-VI |
| キーワード(英) | ICM / Radiation damage / Total dose effects / 4007 type device / ETS-VI |
| 資料番号 | R95-35 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
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| 開催期間 | 1995/12/15(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Reliability(R) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ETS-VI搭載集積回路モニタ(ICM)計測結果(速報) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Flight Data of Integrated Circuit Monitor (ICM) on ETS-VI Satellite |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ICM / ICM |
| キーワード(2)（和/英） | トータルドーズ効果 / Radiation damage |
| キーワード(3)（和/英） | 4007素子 / Total dose effects |
| キーワード(4)（和/英） | ETS-VI / 4007 type device |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 木本 雄吾 / Yugo KIMOTO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 宇宙開発事業団技術研究本部要素技術研究部 Office of Research and Development, NASDA |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 松本 晴久 / Haruhisa MATSUMOTO |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 宇宙開発事業団技術研究本部要素技術研究部 Office of Research and Development, NASDA |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 五家 建夫 / Tateo GOKA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 宇宙開発事業団技術研究本部要素技術研究部 Office of Research and Development, NASDA |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 福田 敏幸 / Toshiyuki HUKUDA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 宇宙開発事業団技術研究本部要素技術研究部 Office of Research and Development, NASDA |
| 発表年月日 | 1995/12/15 |
| 資料番号 | R95-35 |
| 巻番号（vol） | vol.95 |
| 号番号（no） | 432 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |