| 講演名 | 1997/3/14 半導体素子の宇宙適用性評価を目的としたI_ 新藤 浩之, 根本 規生, 松崎 一浩, 松田 純夫, 馬場 信次, 広瀬 孝幸, |
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| 抄録(和) | 宇宙用に用いられるデバイスは、民生用デバイスよりも高い信頼度を有する必要があり、これに伴いデバイスの評価手法も信頼度の高い手法が要求される。しかし、近年のデバイスの高機能化・大容量化に伴い、従来用いてきた機能試験では試験時間の長大化・故障検出率の低下といった問題が生じてきている。これらの問題に対し、民生用デバイス評価の分野において機能試験に代わる検査手法として用いられはじめているI_ |
| 抄録(英) | It is necessary to obtain the electroniic caracteristic of the semiconductor device in order to estimate the possibility for space use. But it becomes insufficient to use the functional test for this purpose. Recently, I_ |
| キーワード(和) | I_ |
| キーワード(英) | I_ |
| 資料番号 | R96-48,CPM96-157 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
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| 開催期間 | 1997/3/14(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Reliability(R) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 半導体素子の宇宙適用性評価を目的としたI_ |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Verification of the efficacy of I_ |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | I_ |
| キーワード(2)（和/英） | CMOS / CMOS |
| キーワード(3)（和/英） | SRAM / SRAM |
| キーワード(4)（和/英） | 機能試験 / functional test |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 新藤 浩之 / Hiroyuki Shindou |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 宇宙開発事業団 National Space Development Agency of Japan |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 根本 規生 / Norio Nemoto |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 宇宙開発事業団 National Space Development Agency of Japan |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 松崎 一浩 / Kazuhiro Matsuzaki |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 宇宙開発事業団 National Space Development Agency of Japan |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 松田 純夫 / Sumio Matsuda |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 宇宙開発事業団 National Space Development Agency of Japan |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 馬場 信次 / Shinji Baba |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 菱栄テクニカ(株) Ryoei Technica Corporation |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 広瀬 孝幸 / Takayuki Hirose |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 菱栄テクニカ(株) Ryoei Technica Corporation |
| 発表年月日 | 1997/3/14 |
| 資料番号 | R96-48,CPM96-157 |
| 巻番号（vol） | vol.96 |
| 号番号（no） | 574 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |