| 講演名 | 1994/1/21 コーナー点列の類似比較によるプリント基板検査方式 川原 豊樹, 山本 淳晴, 丸山 祐二, 川上 秀彦, |
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| 抄録(和) | 本研究では、様々な形状の回路パターンを高精度に検査するために、細線化と距離変換を用いたデザイン・ルール・チェック法とコーナー比較法の2方式を併用する検査方式を提案する。本報告では、コーナー比較法について詳細に説明する。まず、2値画像の輪郭を8方向に近似し、その近似された輪郭画像からコーナー点を検出する方法について述べる。さらに、マクロ的にパターンを検査するため、コーナー点を連結させたコーナー点列を類似比較する手法と、欠陥形状を判定する手法について説明する。最後に、実際のプリント基板を用いたシミュレーション実験について報告し、本検査方式の有効性を示す。 |
| 抄録(英) | In order to inspect various circuit patterns,we propose the inspection method which contains DRC(Design Rule Check) method and corner comparison method.In this paper,we describe about the corner comparison method in detail.We first describe to detect corner point from the contour line which is coded by direction- codes.In addition,we mention the method of comparing similarity of corner-points and the method to detect the kind of defect by corner-points.Lastly this paper reports a simulation on a computer. The results are quite satisfactory. |
| キーワード(和) | プリント基板 / デザイン・ルール・チェック / 検査方式 / コーナー検出 / DPマッチング |
| キーワード(英) | P.C.Board / Design Rule Check / Inspection Method / Corner Detection / DP-matching |
| 資料番号 | PRU93-123 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | PRU |
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| 開催期間 | 1994/1/21(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Pattern Recognition and Understanding (PRU) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | コーナー点列の類似比較によるプリント基板検査方式 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An Inspection Method of PCB by Comparing Similarity of corner- points |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | プリント基板 / P.C.Board |
| キーワード(2)（和/英） | デザイン・ルール・チェック / Design Rule Check |
| キーワード(3)（和/英） | 検査方式 / Inspection Method |
| キーワード(4)（和/英） | コーナー検出 / Corner Detection |
| キーワード(5)（和/英） | DPマッチング / DP-matching |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 川原 豊樹 / Toyoki Kawahara |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 松下技研画像情報研究所 Image Processing Research Laboratory Matsushita Research Institute Tokyo,Inc. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 山本 淳晴 / Atsuharu Yamamoto |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 松下技研画像情報研究所 Image Processing Research Laboratory Matsushita Research Institute Tokyo,Inc. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 丸山 祐二 / Yuji Maruyama |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 松下技研画像情報研究所 Image Processing Research Laboratory Matsushita Research Institute Tokyo,Inc. |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 川上 秀彦 / Hidehiko Kawakami |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 松下技研画像情報研究所 Image Processing Research Laboratory Matsushita Research Institute Tokyo,Inc. |
| 発表年月日 | 1994/1/21 |
| 資料番号 | PRU93-123 |
| 巻番号（vol） | vol.93 |
| 号番号（no） | 431 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 8 |
| 発行日 | |