| 講演名 | 2001/3/23 新しい日本語了解度試験方法の評価 近藤 和弘, 泉 良, 中川 清司, |
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| 抄録(和) | 本報告では、安定した単語了解度試験方法として以前提案した日本語用Diagnostic Rhyme Test (DRT)について更に検討を加えた。まず単語親密度の影響を調べたところ、単語対より正答を選ばせるDRTでは、4つの単語より正答を選ばせる場合や、自由に単語を記述させる従来の了解度試験方法に比べ親密度の影響が少ないことが分かった。また、学習の影響も従来の了解度試験方法に比べDRTは少なく、その正答率は変動が少ないことが分かった。白色雑音、マルチトーカノイズ、あるいは擬似音声雑音を異なるレベルで混入させたサンプルを用いて評価を行ったところ、英語DRTと良く似た傾向が確認された。 |
| 抄録(英) | In this paper, we investigated further into the Japanese DRT, which we previously proposed as a subjective intelligibility test, which should give stable results with relatively untrained subjects. We conducted small-scale tests, which showed that the effect of familiarity in DRT, in which the subjects select the answer from a word pair, is significantly less compared to tests that use a four-word selection list, and conventional free-choice word intelligibility tests. The effect of training seems to play a lesser role in DRT compared to conventional free-choice tests as well. We initially tested the proposed DRT with white noise, babble, and pseudo-speech noise mixed at various levels, and found similar trends as its English counterpart. |
| キーワード(和) | 主観音質評価 / 了解度 / 音素特徴 / ミニマルペア単語試験 / 親密度 |
| キーワード(英) | subjective speech evaluation / intelligibility / phonetic features / minimal-pair rhyme test / familiarity |
| 資料番号 | SP2000-163 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SP |
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| 開催期間 | 2001/3/23(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Speech (SP) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 新しい日本語了解度試験方法の評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Initial Evaluation of a Novel Japanese Intelligibility Test |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 主観音質評価 / subjective speech evaluation |
| キーワード(2)（和/英） | 了解度 / intelligibility |
| キーワード(3)（和/英） | 音素特徴 / phonetic features |
| キーワード(4)（和/英） | ミニマルペア単語試験 / minimal-pair rhyme test |
| キーワード(5)（和/英） | 親密度 / familiarity |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 近藤 和弘 / Kazuhiro Kondo |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 山形大学工学部電気電子工学科 Dept. of Electrical Engineering, Faculty of Engineering, Yamagata University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 泉 良 / Ryo Izumi |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 山形大学工学部電気電子工学科 Dept. of Electrical Engineering, Faculty of Engineering, Yamagata University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 中川 清司 / Kiyoshi Nakagawa |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 山形大学工学部電気電子工学科 Dept. of Electrical Engineering, Faculty of Engineering, Yamagata University |
| 発表年月日 | 2001/3/23 |
| 資料番号 | SP2000-163 |
| 巻番号（vol） | vol.100 |
| 号番号（no） | 726 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 8 |
| 発行日 | |