| 講演名 | 2001/12/14 Pdコンタクト開離時アークのガス相移行とブリッジ現象との関連について 菅波 良征, 吉田 清, 高橋 篤夫, |
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| 抄録(和) | Pdコンタクトに対し、アーク光の分光測定を行い、同時にブリッジ現象のブリッジ電圧・電流波形と接触抵抗について測定した。その結果、イオンのスペクトルPdII(285.46nm)はガス相への移行点付近で最大となり、ガス相移行後は低下した。一方、誘起原子のスペクトルPdI(363.47nm)はガス相へ移行後も一定の強度を保っていた。また最初のブリッジおよび最後の再ブリッジの破壊電圧(Vb, Vbe)は、閉成時電流Ioが増加してもPdの沸騰電圧に相当する1.2～1.3Vで一定であった。接触抵抗値は、ガス相移行境界付近のIoで最大値となり、その後Ioが増加するとともに低下することが明らかになった。 |
| 抄録(英) | In this paper, bridge voltage and current waveforms of bridge phenomenon and contact resistance were observed with the spectrum measurement in Pd contact. In result, spectrum intensity of PdII(285.46nm) becomes maximum value near the gaseous phase transition point, and it decreases in gaseous phase. On the other hand, spectrum intensity of PdI(363.47nm) is kept constant in gaseous phase. Even if a closed contact current(Io)is increased, destruction voltage(Vb, Vbe)of first-bridge and end-rebridge have nearly constant values(1.2V to 1.3V). These voltage corresponds to boiling voltage of Pd. Contact resistance value becomes maximum value near the gaseous phase transition point, and it decreases in gaseous phase. |
| キーワード(和) | 電気接点 / 開離時アーク / Pd / 接触抵抗 / ブリッジ / ガス相アーク |
| キーワード(英) | electrical contacts / break arc / palladium / contact resistance / bridge / gaseous phase arc |
| 資料番号 | EMD 2001-89 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
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| 開催期間 | 2001/12/14(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromechanical Devices (EMD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | Pdコンタクト開離時アークのガス相移行とブリッジ現象との関連について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Relation between gaseous phase transition and bridge phenomenon in Pd break arc |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / electrical contacts |
| キーワード(2)（和/英） | 開離時アーク / break arc |
| キーワード(3)（和/英） | Pd / palladium |
| キーワード(4)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(5)（和/英） | ブリッジ / bridge |
| キーワード(6)（和/英） | ガス相アーク / gaseous phase arc |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 菅波 良征 / Yoshiyuki SUGANAMI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本工業大学工学部電気電子工学科 Faculty of Engieering, Nippon Institute of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 吉田 清 / Kiyoshi YOSHIDA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本工業大学工学部電気電子工学科 Faculty of Engieering, Nippon Institute of Technology |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 高橋 篤夫 / Atsuo TAKAHASHI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日本工業大学工学部電気電子工学科 Faculty of Engieering, Nippon Institute of Technology |
| 発表年月日 | 2001/12/14 |
| 資料番号 | EMD 2001-89 |
| 巻番号（vol） | vol.101 |
| 号番号（no） | 531 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |